|
|
Письма в Журнал технической физики, 2014, том 40, выпуск 9, страницы 48–54
(Mi pjtf8145)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 9 научных статьях (всего в 9 статьях)
Эпитаксия полуполярного GaN на подложке Si(001) с буферным слоем SiC
В. Н. Бессоловab, Е. В. Коненковаab, С. А. Кукушкинab, А. В. Мясоедовab, А. В. Осиповab, С. Н. Родинab, М. П. Щегловab, Н. А. Феоктистовab a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Институт проблем машиноведения РАН, г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Предложен новый метод синтеза полуполярного нитрида галлия на кремниевой подложке с помощью технологии твердофазной эпитаксии нанокристаллов 3C-SiC. Показано, что применение буферных слоев 3C-SiC и AlN позволяет формировать эпитаксиальные слои полуполярного нитрида галлия с отклонением слоя от полярного положения оси c вюрцитного кристалла на угол 48–51$^\circ$ при минимальной полуширине рентгенодифракционной кривой качания $\omega_\theta\sim$ 24'. Наблюдавшийся изгиб цилиндрического характера в структуре GaN/AlN/3C-SiC/Si(001) объясняется анизотропной деформацией полуполярного GaN на кремнии.
Поступила в редакцию: 11.12.2013
Образец цитирования:
В. Н. Бессолов, Е. В. Коненкова, С. А. Кукушкин, А. В. Мясоедов, А. В. Осипов, С. Н. Родин, М. П. Щеглов, Н. А. Феоктистов, “Эпитаксия полуполярного GaN на подложке Si(001) с буферным слоем SiC”, Письма в ЖТФ, 40:9 (2014), 48–54; Tech. Phys. Lett., 40:5 (2014), 386–388
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8145 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v40/i9/p48
|
|