|
|
Письма в Журнал технической физики, 2014, том 40, выпуск 15, страницы 45–49
(Mi pjtf8220)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Облучение электронами с энергией 0.9 MeV $p$-SiC, выращенного методом сублимации
А. А. Лебедевab, В. В. Козловскийab a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский государственный политехнический университет
Аннотация:
Определена скорость удаления носителей $(V_d)$ в 3 политипах SiC, выращенного методом сублимации, $p$-типа проводимости при его облучении электронами с энергией 0.9 MeV. На основе известных литературных данных проводится сравнение величины $V_d$ в карбиде кремния при комнатной температуре в зависимости от политипа, типа проводимости и технологии изготовления. Предложена модель, объясняющая различие в значениях величины $V_d$.
Поступила в редакцию: 17.02.2014
Образец цитирования:
А. А. Лебедев, В. В. Козловский, “Облучение электронами с энергией 0.9 MeV $p$-SiC, выращенного методом сублимации”, Письма в ЖТФ, 40:15 (2014), 45–49; Tech. Phys. Lett., 40:8 (2014), 651–652
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8220 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v40/i15/p45
|
|