Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2013, том 39, выпуск 7, страницы 66–72 (Mi pjtf8467)  
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)

Влияние структуры поверхности на величину среднего перепада высот при исследованиях методами атомно-силовой микроскопии

В. А. Новиков

Национальный исследовательский Томский государственный университет
PDF полного текста (977 kB) Список цитирования (2)
Аннотация: Приведены результаты анализа зависимости среднего перепада высот от ширины области сканирования и структуры профиля поверхности в атомно-силовой микроскопии (АСМ). На примере среднего перепада высот показано, что при анализе АСМ-данных необходимо выделять локальные и глобальные статистические параметры. При этом локальные статистические параметры могут иметь значения большие, чем глобальные. Для приведенного примера определена функция скейлинга, которая позволяет связать несколько параметров эксперимента для прогнозирования величины среднего перепада высот.
Поступила в редакцию: 22.11.2012
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2013, Volume 39, Issue 4, Pages 347–349
DOI: https://doi.org/10.1134/S106378501304010X
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: В. А. Новиков, “Влияние структуры поверхности на величину среднего перепада высот при исследованиях методами атомно-силовой микроскопии”, Письма в ЖТФ, 39:7 (2013), 66–72; Tech. Phys. Lett., 39:4 (2013), 347–349
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{Nov13}
\by В.~А.~Новиков
\paper Влияние структуры поверхности на величину среднего перепада высот при исследованиях методами атомно-силовой микроскопии
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2013
\vol 39
\issue 7
\pages 66--72
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf8467}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20328151}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2013
\vol 39
\issue 4
\pages 347--349
\crossref{https://doi.org/10.1134/S106378501304010X}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8467
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v39/i7/p66
    • Эта публикация цитируется в следующих 2 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025