Анизотропия дифракционных характеристик тонких пленок пиролитического графита

Исследованы полярные диаграммы и локальные дифракционные характеристики тонких пленок из высокоориентированного пиролитического графита (ВПГ), используемого для монохроматизации излучения и рентгеновской спектрометрии. Измерения проводились с помощью двухволнового рентгеновского рефлектометра. При угловом азимутальном сканировании исходных пленок ВПГ рентгеновским зондом с площадью сечения $<$ 0.1 mm$^2$ наблюдалась резкая анизотропия коэффициента дифракционного отражения. Показана возможность подавления влияния анизотропии, и обоснованы условия применения пленок ВПГ в качестве дисперсионного элемента для схем рентгеновской томографии и мэппирования, а также для исследования спектров по единичному импульсу рентгеновского лазера.