|
|
Письма в Журнал технической физики, 2013, том 39, выпуск 17, страницы 35–43
(Mi pjtf8584)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 5 научных статьях (всего в 5 статьях)
Воздействие быстрых протонов и нейтронов на приборы с зарядовой связью
Н. А. Ивановab, О. В. Лобановab, Е. В. Митинab, В. В. Пашукab, М. Г. Тверскойab a Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова, Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт"
b Российский научно-исследовательский институт "Электронстандарт", г. Санкт-Петербург
Аннотация:
Проведено облучение CCD-матриц Sony ICX 259AL на протонном и нейтронном пучках синхроциклотрона ПИЯФ. Представлены данные по сечениям образования, пространственному и временному распределениям пикселей облученных матриц с большой величиной темнового тока. Полученные экспериментальные данные сравниваются с результатами расчетов.
Поступила в редакцию: 25.02.2013
Образец цитирования:
Н. А. Иванов, О. В. Лобанов, Е. В. Митин, В. В. Пашук, М. Г. Тверской, “Воздействие быстрых протонов и нейтронов на приборы с зарядовой связью”, Письма в ЖТФ, 39:17 (2013), 35–43; Tech. Phys. Lett., 39:9 (2013), 771–774
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8584 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v39/i17/p35
|
|