|
|
Письма в Журнал технической физики, 2013, том 39, выпуск 19, страницы 32–40
(Mi pjtf8607)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 14 научных статьях (всего в 14 статьях)
Шероховатость пленок аморфного, поликристаллического кремния и поликристаллического кремния с полусферическими зернами
А. В. Новакab, В. Р. Новакab a Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
b Научно-исследовательский институт физических проблем
им. Ф.В. Лукина, Зеленоград
Аннотация:
Изучены шероховатость, пространственные и корреляционные свойства поверхности для трех характерных типов LPCVD пленок кремния: аморфных и поликристаллических, имеющих относительно “гладкую” поверхность, и поликристаллических пленок с полусферическими зернами (HSG-Si), имеющих значительную шероховатость поверхности, посредством атомно-силовой микроскопии. Из анализа корреляционной функции и функции спектральной плотности мощности найдено, что для описания морфологии пленок аморфного и поликристаллического кремния подходит модель самоаффинной поверхности, тогда как для HSG-Si пленок – модель “холмообразной” поверхности.
Поступила в редакцию: 14.05.2013
Образец цитирования:
А. В. Новак, В. Р. Новак, “Шероховатость пленок аморфного, поликристаллического кремния и поликристаллического кремния с полусферическими зернами”, Письма в ЖТФ, 39:19 (2013), 32–40; Tech. Phys. Lett., 39:10 (2013), 858–861
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8607 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v39/i19/p32
|
|