Полевая эмиссионная микроскопия поверхности полевого эмиттера на основе Ir–C–Cs

Методами полевой электронной и полевой десорбционной микроскопии исследованы эмиссионные свойства иридиевого полевого эмиттера с различными формами углерода (хемосорбированный углерод, двумерные графитовые структуры) и адсорбированного цезия на поверхности. Получены полевые электронные и полевые десорбционные изображения эмитирующей поверхности, соответствующие различным фазовым состояниям углерода. Обнаружено, что двумерные графитовые структуры преимущественно растут в области граней (100) и (111) иридия.