|
|
Письма в Журнал технической физики, 2012, том 38, выпуск 5, страницы 28–34
(Mi pjtf8784)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
Формирование и свойства тонких пленок силицидов железа на поверхности Si(111): моделирование из первых принципов
И. А. Куяновab, А. А. Алексеевab, А. В. Зотовab a Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет)
b Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, г. Владивосток
Аннотация:
В приближении обобщенного градиента теории функционала плотности были проведены расчеты полной энергии, а также моделировалось атомное строение и электронная структура тонких пленок FeSi со структурой типа CsCl и $\gamma$-FeSi$_2$ со структурой CaF$_2$ на поверхности Si(111). Показано, что при адсорбции 2 монослоев атомов железа наиболее энергетически выгодным является рост пленки $\gamma$-FeSi$_2$ со структурой CaF$_2$. Электронная структура силицидной пленки, формирующейся при напылении 1 монослоя атомов железа, имеет особенности, характерные как для FeSi, так и для $\gamma$-FeSi$_2$. Рассчитанная плотность электронных состояний пленки $\gamma$-FeSi$_2$ хорошо согласуется с известными из литературы фотоэмиссионными спектрами.
Поступила в редакцию: 11.10.2011
Образец цитирования:
И. А. Куянов, А. А. Алексеев, А. В. Зотов, “Формирование и свойства тонких пленок силицидов железа на поверхности Si(111): моделирование из первых принципов”, Письма в ЖТФ, 38:5 (2012), 28–34; Tech. Phys. Lett., 38:3 (2012), 215–217
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8784 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v38/i5/p28
|
|