Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Письма в Журнал технической физики, 2012, том 38, выпуск 5, страницы 28–34 (Mi pjtf8784)  

Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)

Формирование и свойства тонких пленок силицидов железа на поверхности Si(111): моделирование из первых принципов

И. А. Куяновab, А. А. Алексеевab, А. В. Зотовab

a Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет)
b Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, г. Владивосток
Аннотация: В приближении обобщенного градиента теории функционала плотности были проведены расчеты полной энергии, а также моделировалось атомное строение и электронная структура тонких пленок FeSi со структурой типа CsCl и $\gamma$-FeSi$_2$ со структурой CaF$_2$ на поверхности Si(111). Показано, что при адсорбции 2 монослоев атомов железа наиболее энергетически выгодным является рост пленки $\gamma$-FeSi$_2$ со структурой CaF$_2$. Электронная структура силицидной пленки, формирующейся при напылении 1 монослоя атомов железа, имеет особенности, характерные как для FeSi, так и для $\gamma$-FeSi$_2$. Рассчитанная плотность электронных состояний пленки $\gamma$-FeSi$_2$ хорошо согласуется с известными из литературы фотоэмиссионными спектрами.
Поступила в редакцию: 11.10.2011
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2012, Volume 38, Issue 3, Pages 215–217
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785012030108
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: И. А. Куянов, А. А. Алексеев, А. В. Зотов, “Формирование и свойства тонких пленок силицидов железа на поверхности Si(111): моделирование из первых принципов”, Письма в ЖТФ, 38:5 (2012), 28–34; Tech. Phys. Lett., 38:3 (2012), 215–217
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KuyAleZot12}
\by И.~А.~Куянов, А.~А.~Алексеев, А.~В.~Зотов
\paper Формирование и свойства тонких пленок силицидов железа на поверхности Si(111): моделирование из первых принципов
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2012
\vol 38
\issue 5
\pages 28--34
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf8784}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20327809}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2012
\vol 38
\issue 3
\pages 215--217
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785012030108}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8784
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v38/i5/p28
  • Эта публикация цитируется в следующих 1 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025