|
|
Письма в Журнал технической физики, 2012, том 38, выпуск 11, страницы 78–87
(Mi pjtf8874)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 18 научных статьях (всего в 18 статьях)
Численное моделирование пространственно неоднородного переключения кремниевых диодных обострителей
П. Б. Родинab, А. М. Минарскийab, И. В. Греховab a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Санкт-Петербургский академический университет — научно-образовательный центр нанотехнологий РАН (Академический университет)
Аннотация:
Проведено численное моделирование пространственно неоднородного субнаносекундного переключения высоковольтных кремниевых диодов при задержанном лавинном пробе. Исследована зависимость переходного процесса от соотношения между полной площадью структуры и площадью той части, на которой происходит переключение. Достигнуто согласие с экспериментом по времени переключения (60–70 ps) и качественному виду переходной характеристики. Показано что быстрый спад напряжения на диоде начинается уже после того, как фронт ионизации пробежал большую часть базы, и затем продолжается за счет вторичного лавинного пробоя заполненной свободными носителями базы. Время переключения структуры в проводящее состояние не имеет прямой связи со скоростью движения фронта.
Образец цитирования:
П. Б. Родин, А. М. Минарский, И. В. Грехов, “Численное моделирование пространственно неоднородного переключения кремниевых диодных обострителей”, Письма в ЖТФ, 38:11 (2012), 78–87; Tech. Phys. Lett., 38:6 (2012), 535–539
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8874 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v38/i11/p78
|
|