Письма в Журнал технической физики
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив
Правила для авторов

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS


Письма в ЖТФ:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти




Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация

Письма в Журнал технической физики, 2012, том 38, выпуск 12, страницы 24–29 (Mi pjtf8881)  
Эта публикация цитируется в 4 научных статьях (всего в 4 статьях)

Изучение влияния пористой подложки SiO$_2$ на свойства пленок Al$_2$O$_3$ с помощью рентгеновской рефлектометрии

А. С. Конашук, А. А. Соколов, В. Е. Дрозд, А. А. Романов, Е. О. Филатова

Санкт-Петербургский государственный университет
PDF полного текста (303 kB) Список цитирования (4)
Аннотация: Методом рентгеновской спектроскопии отражения изучено строение пленок Al$_2$O$_3$ различной толщины, синтезированных техникой молекулярного наслаивания на пористом SiO$_2$. Установлено, что синтезированные пленки являются аморфными, причем соотношение количества тетраэдрических и октаэдрических координаций атомов алюминия в пленке зависит от ее толщины. Предположительно более толстые пленки оксида алюминия содержат больше тетраэдрических координаций.
Поступила в редакцию: 30.11.2011
Англоязычная версия:
Technical Physics Letters, 2012, Volume 38, Issue 6, Pages 562–564
DOI: https://doi.org/10.1134/S1063785012060235
Реферативные базы данных:
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: А. С. Конашук, А. А. Соколов, В. Е. Дрозд, А. А. Романов, Е. О. Филатова, “Изучение влияния пористой подложки SiO$_2$ на свойства пленок Al$_2$O$_3$ с помощью рентгеновской рефлектометрии”, Письма в ЖТФ, 38:12 (2012), 24–29; Tech. Phys. Lett., 38:6 (2012), 562–564
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KonSokDro12}
\by А.~С.~Конашук, А.~А.~Соколов, В.~Е.~Дрозд, А.~А.~Романов, Е.~О.~Филатова
\paper Изучение влияния пористой подложки SiO$_2$ на свойства пленок Al$_2$O$_3$ с помощью рентгеновской рефлектометрии
\jour Письма в ЖТФ
\yr 2012
\vol 38
\issue 12
\pages 24--29
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/pjtf8881}
\elib{https://elibrary.ru/item.asp?id=20327906}
\transl
\jour Tech. Phys. Lett.
\yr 2012
\vol 38
\issue 6
\pages 562--564
\crossref{https://doi.org/10.1134/S1063785012060235}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8881
  • https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v38/i12/p24
    • Эта публикация цитируется в следующих 4 статьяx:
    Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    		Письма в Журнал технической физики Письма в Журнал технической физики
     
      Обратная связь:
    		  Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025