|
|
Письма в Журнал технической физики, 2012, том 38, выпуск 12, страницы 81–86
(Mi pjtf8889)
|
|
|
|
Эта публикация цитируется в 2 научных статьях (всего в 2 статьях)
Измерение амплитуды нановибраций с помощью полупроводникового лазерного автодина с учетом влияния обратной связи
Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль, Е. О. Кащавцев, М. Ю. Калинкин Саратовский государственный университет им. Н. Г. Чернышевского
Аннотация:
Исследовано влияние внешней оптической обратной связи на форму продектектированного сигнала полупроводникового лазерного автодина. Предложен метод определения амплитуды нановибраций, заключающийся в измерении отношения амплитуд основных спектральных составляющих автодинного сигнала при нановибрациях и при наложении дополнительных механических колебаний, с учетом уровня внешней оптической обратной связи. Экспериментально подтверждена возможность при таком методе измерений значительного повышения точности определения амплитуд нановибраций.
Поступила в редакцию: 21.02.2012
Образец цитирования:
Д. А. Усанов, А. В. Скрипаль, Е. О. Кащавцев, М. Ю. Калинкин, “Измерение амплитуды нановибраций с помощью полупроводникового лазерного автодина с учетом влияния обратной связи”, Письма в ЖТФ, 38:12 (2012), 81–86; Tech. Phys. Lett., 38:6 (2012), 590–592
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8889 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v38/i12/p81
|
|