|
|
Письма в Журнал технической физики, 2012, том 38, выпуск 17, страницы 1–6
(Mi pjtf8938)
|
|
|
|
Разработка метода расчета фактора корреляции рельефов подложки и пленочного покрытия по данным атомно-силовой микроскопии
Ю. В. Грищенко, М. Л. Занавескин, А. Н. Марченков Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", г. Москва
Аннотация:
Представлена методика, позволяющая по данным атомно-силовой микроскопии проводить расчет фактора корреляции рельефов подложки и пленочного покрытия, который является функцией пространственной частоты и характеризует степень согласованности рельефов. Изучено влияние артефактов атомно-силовой микроскопии на рассчитываемый фактор корреляции и определен диапазон достоверных пространственных частот. Рассчитан фактор корреляции многослойного зеркального покрытия и подложки.
Поступила в редакцию: 28.03.2012
Образец цитирования:
Ю. В. Грищенко, М. Л. Занавескин, А. Н. Марченков, “Разработка метода расчета фактора корреляции рельефов подложки и пленочного покрытия по данным атомно-силовой микроскопии”, Письма в ЖТФ, 38:17 (2012), 1–6; Tech. Phys. Lett., 38:9 (2012), 777–779
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/pjtf8938 https://www.mathnet.ru/rus/pjtf/v38/i17/p1
|
|