Новый подход в понимании механизмов дифракционного изображения дислокаций в рентгеновской топографии

Методами численного моделирования и экспериментальной секционной рентгеновской топографии изучены закономерности образования дифракционного изображения дислокаций. Изучение рассеяния рентгеновских лучей на неоднородностях кристаллической решетки представляет интерес по нескольким причинам. Во-первых, контраст дефектов связан с фундаментальной проблемой – развитием динамической теории рассеяния рентгеновского излучения в реальных кристаллах. Во-вторых, знание особенностей дифракции позволяет качественно, а в ряде случаев и количественно, анализировать рентгеновский дифракционный контраст дефектов кристаллической решетки [1–4] (измерять величины деформаций, определять знак и параметры вектора Бюргерса и пр.).