Измерение кинетики фотообесцвечивания пленок полупроводниковых полимеров методом "возбуждение — зондирование"

Разработана феноменологическая модель динамики лазерного фотообесцвечивания полупроводникового полимера в двулучевой схеме для различных длин волн выжигающего и зондирующего пучков. На основе данной модели реализован экспериментальный метод, позволяющий исследовать материалы, которые сильно отличаются по скорости фотодеградации. Измерен квантовый выход фотодеградации в смесях полупроводникового полимера класса полипарафенилен-виниленов MEH-PPV c низкомолекулярным электронным акцептором 2,4,7-тринитрофлуореноном (TNF) при длинах волн выжигания 488 и 514 нм для различных соотношений компонентов MEH-PPV : TNF. Получено, что добавление акцептора приводит к уменьшению квантового выхода фотодеградации полимера по крайней мере на четыре порядка в смеси MEH-PPV : TNF = 1 : 0.4, при этом квантовый выход фотодеградации для данных длин волн совпадает. Показано, что скорости фотодеградации пленок MEH-PPV : TNF, полученные методами лазерного фотообесцвечивания и ИК спектроскопии, хорошо согласуются друг с другом.