Спонтанное и вынужденное излучение эксимерных молекул XeCl* при накачке газовых смесей Хе/ССl4 и Ar – Хе – ССl4 с низким содержанием ССl4 быстрыми электронами и осколками деления урана

Приведены результаты экспериментальных исследований спонтанного и вынужденного излучений эксимерных молекул ХеСl * при возбуждении газовых смесей Хе – ССl₄ и Ar – Хе – ССl₄ с низким содержанием ССl₄ заряженными частицами высокой энергии – импульсным пучком быстрых электронов и продуктами нейтронной ядерной реакции ²³⁵U(n, f). Энергия электронов равнялась 150 кэВ, длительность и амплитуда импульса тока накачки – 5 нс и 5 А. Энергия осколков деления не превышала 100 МэВ, длительность нейтронного импульса накачки – 200 мкс, удельная мощность энерговклада в газ – около 300 Вт/см³. При накачке электронным пучком в кювете длиной 4 см в резонаторе с пропусканием выходного зеркала 2.7 % реализуется режим генерации лазерного излучения на В → Х-переходе молекулы ХеСl * (λ = 308 нм) с коэффициентом усиления α = 0.0085 см^-1 и эффективностью флуоресценции на В – Х-переходе η ≈ 10 %, а при накачке осколками деления в кювете длиной 250 см в резонаторе, образованном глухим зеркалом и кварцевым окном, – режим усиленного спонтанного излучения (УСИ) с выходной мощностью излучения 40 – 50 кВт/ср и длительностью импульса УСИ по основанию ~200 мкс.