Многолучевой волоконный отражательный интерферометр на основе полностью диэлектрической дифракционной структуры

В работе проведены эксперименты по созданию волоконного отражательного интерферометра на основе полностью диэлектрических дифракционных структур для диапазона 1500–1600 нм. Дифракционная рассеивающая структура переднего зеркала интерферометра сформирована на торце волокна путем его повреждения посредством пленки с алмазной крошкой с размером зерен в несколько микрометров. В результате для двух образцов получены узкие пики отражения с параметрами: резкость 100 и 11, контраст 2 и 60 соответственно. В принципе возможно создание такого интерферометра с высокими контрастом и резкостью одновременно.