Спектрометр на основе диодных лазеров для высокоточных измерений

Рассмотрены вопросы создания, калибровки и ввода в эксплуатацию спектрометра для высокоточных измерений на основе диодных лазеров. Для проведения тестов выбрана изолированная линия Р20 полосы 00031-00001 молекулы ¹²С¹⁶О₂. Проведен анализ бюджета погрешностей спектрометра. Создана программа аппроксимации контура спектральной линии и проведен анализ этой процедуры. Показано, что для базовой линии, относительный уровень которой составляет 2.3 × 10^-5, при аппроксимации контура линии оптимально использовать не более шести подгоночных параметров. Измерена интегральная интенсивность аналитической линии, составившая 5.3865(85) × 10^-23 см/мол.