Селекция основной моды сферического микрорезонатора с помощью тонкой металлической пленки c зазором

С помощью численного моделирования в среде COMSOL Multiphysics впервые продемонстрирована возможность селекции основной моды шепчущей галереи в сферическом микрорезонаторе с радиусом 80 мкм на основе эффекта поглощения в тонкой металлической пленке с зазором, расположенной на некотором расстоянии от поверхности резонатора. Рассчитаны добротности радиальных и азимутальных мод для мод с азимутальным индексом m = 455. Результаты показали высокую добротность Q ≈10⁹ фундаментальной моды с учетом внутренних потерь и возможность подавления добротности высших радиальных и азимутальных мод с помощью слоя толщиной 5 нм в ∼100 и ∼10 раз соответственно. Кроме того, показана возможность селекции данным методом основной моды в широком диапазоне значений индекса m при сохранении высокой добротности и фактора подавления высших мод.