Нелинейно-оптические характеристики тонких пленок C60 на длине волны 532 нм

Представлены результаты исследований действительной и мнимой частей нелинейной восприимчивости третьего порядка χ⁽³⁾ тонких (100 нм) пленок C₆₀ методом z-сканирования на длине волны второй гармоники излучения Nd:YAG-лазера (λ = 532 нм, длительность импульса t = 55 пс). Анализируется смена знака Reχ⁽³⁾ с отрицательного (при частоте следования импульсов f = 2 Гц) на положительный (при f = 0.5 Гц). Вариации знака действительной части нелинейной восприимчивости третьего порядка объясняются влиянием эффекта тепловой линзы. Полученные гигантские значения Reχ⁽³⁾ ((4.80 ± 0.96) × 10^-8 см³/Дж) и Imχ⁽³⁾ ((1.1 ± 0.2) × 10^-8 см³/Дж) могут быть обусловлены поверхностным усилением.