Труды института системного программирования РАН
RUS  ENG    ЖУРНАЛЫ   ПЕРСОНАЛИИ   ОРГАНИЗАЦИИ   КОНФЕРЕНЦИИ   СЕМИНАРЫ   ВИДЕОТЕКА   ПАКЕТ AMSBIB  
Общая информация
Последний выпуск
Архив

Поиск публикаций
Поиск ссылок

RSS
Последний выпуск
Текущие выпуски
Архивные выпуски
Что такое RSS



Труды ИСП РАН:
Год:
Том:
Выпуск:
Страница:
Найти






Персональный вход:
Логин:
Пароль:
Запомнить пароль
Войти
Забыли пароль?
Регистрация


Труды института системного программирования РАН, 2023, том 35, выпуск 4, страницы 109–120
DOI: https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2023-35(4)-5
(Mi tisp803)
 

Подходы к разработке системы обнаружения дефектов печатных плат на основе технологии АОИ

Т. С. Ходатаева, Н. В. Каширин, А. И. Аверина, А. Е. Гурьянов

Марийский государственный университет
Аннотация: Рассматриваются некоторые современные подходы обнаружения дефектов печатных плат на основе автоматической оптической инспекции с целью проектирования собственной системы контроля производства. Важность процесса контроля растет в связи с ужесточением требований, предъявляемых современными производственными процессами. На предприятиях массового производства электроники предпринимаются попытки добиться высокого качества всех деталей, узлов и готовой продукции. Система оптической инспекции является одним из наиболее важных инструментов автоматизации визуального контроля печатных схем. Помимо обеспечения экономической эффективности и контроля качества продукции, автоматизированная система контроля также может собирать статистическую информацию для осуществления обратной связи с производственным процессом. В обзоре рассматриваются алгоритмы и методы автоматизированного оптического контроля проводящего рисунка на поверхности печатных плат с целью нахождения оптимального метода обнаружения дефектов.
Ключевые слова: автоматическая оптическая инспекция, обработка изображений, сверточные нейронные сети
Финансовая поддержка
Работа выполняется в рамках государственного задания на оказание государственных услуг (выполнение работ) № 075-01252-22-03 от 26.10.2022 на базе ФГБОУ ВО Марийского государственного университета в сотрудничестве с ведущим предприятием по производству печатных плат «ТЕХНОТЕХ» (сайт https://tehnoteh.ru/) в г. Йошкар-Ола.
Тип публикации: Статья
Образец цитирования: Т. С. Ходатаева, Н. В. Каширин, А. И. Аверина, А. Е. Гурьянов, “Подходы к разработке системы обнаружения дефектов печатных плат на основе технологии АОИ”, Труды ИСП РАН, 35:4 (2023), 109–120
Цитирование в формате AMSBIB
\RBibitem{KhoKasAve23}
\by Т.~С.~Ходатаева, Н.~В.~Каширин, А.~И.~Аверина, А.~Е.~Гурьянов
\paper Подходы к разработке системы обнаружения дефектов печатных плат на основе технологии АОИ
\jour Труды ИСП РАН
\yr 2023
\vol 35
\issue 4
\pages 109--120
\mathnet{http://mi.mathnet.ru/tisp803}
\crossref{https://doi.org/10.15514/ISPRAS-2023-35(4)-5}
Образцы ссылок на эту страницу:
  • https://www.mathnet.ru/rus/tisp803
  • https://www.mathnet.ru/rus/tisp/v35/i4/p109
  • Citing articles in Google Scholar: Russian citations, English citations
    Related articles in Google Scholar: Russian articles, English articles
    Труды института системного программирования РАН
     
      Обратная связь:
     Пользовательское соглашение  Регистрация посетителей портала  Логотипы © Математический институт им. В. А. Стеклова РАН, 2025