|
Эта публикация цитируется в 1 научной статье (всего в 1 статье)
К 270-летию МОСКОВСКОГО ГОСУДАРСТВЕННОГО УНИВЕРСИТЕТА (МГУ) имени М.В. ЛОМОНОСОВА. ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЙ
Эффект увеличения коэффициента обратно рассеянных электронов на многослойных наноструктурах и инверсия контраста изображений в сканирующей электронной микроскопии
Э. И. Рау, С. В. Зайцев Физический факультет, Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Аннотация:
Обсуждены причины увеличения коэффициента обратно рассеянных электронов (ОРЭ) на многослойных плёночных наноструктурах при их исследовании в сканирующем электронном микроскопе (СЭМ). Рассмотрены условия возникновения инверсии контраста их изображений. Впервые получено полное аналитическое выражение для сигнала, детектируемого в режиме ОРЭ в СЭМ, для многослойных наноструктур. Решение прямой и обратной задач, связывающих величины сигнала с композицией трёхмерного образца в зависимости от энергии зондирующих электронов, позволяет определять толщины и глубины залегания нанообъектов в массиве матрицы с большим пространственным разрешением. Основные расчёты в предлагаемой работе проведены по уточнённым эмпирическим формулам, соответствующим экспериментальным данным авторов или приведённым в цитированной литературе.
Ключевые слова:
сканирующая электронная микроскопия, обратно рассеянные электроны, многослойные тонкоплёночные структуры, контраст изображений.
Поступила: 7 июня 2024 г. Доработана: 5 декабря 2024 г. Одобрена в печать: 13 января 2025 г.
Образец цитирования:
Э. И. Рау, С. В. Зайцев, “Эффект увеличения коэффициента обратно рассеянных электронов на многослойных наноструктурах и инверсия контраста изображений в сканирующей электронной микроскопии”, УФН, 195:4 (2025), 425–431; Phys. Usp., 68:4 (2025), 401–407
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/ufn15916 https://www.mathnet.ru/rus/ufn/v195/i4/p425
|
|