|
Эта публикация цитируется в 3 научных статьях (всего в 3 статьях)
Теоретическая и математическая физика
Моделирование некоторых свойств изображений с атомарным разрешением в сканирующем зондовом микроскопе
А. А. Потаповabc, С.Ш. Рехвиашвилиd a Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН, г. Москва
b JiNan University (JNU), Guangzhou, China
c Cooperative Chinese-Russian laboratory of informational technologies and signals fractal processing of JNU-IREE RAS,
JiNan University (JNU), Guangzhou, China
d Институт прикладной математики и автоматизации КБНЦ РАН, Нальчик, Россия
Аннотация:
Разработана методика моделирования изображений в сканирующем зондовом микроскопе (СЗМ) с одновременным применением вейвлет-преобразования и медианной фильтрации. В работе использовалось вейвлет-преобразование с ядром Добеши 4-го порядка. Данное преобразование позволяет выделять на СЗМ-изображениях детали различных масштабов, что дает возможность исследовать фрактальные свойства поверхностей. С помощью моделирования показано, что сверхвысокое разрешение в СЗМ может соответствовать атомарному, если размеры контактной области в системе “зонд-образец” намного превышает атомные размеры, а также имеется случайный разброс в расположении атомов решетки. Дано объяснение явлению инверсии контраста на СЗМ-изображениях в режиме многократного сканирования.
Поступила в редакцию: 09.01.2017 Исправленный вариант: 07.12.2017
Образец цитирования:
А. А. Потапов, С.Ш. Рехвиашвили, “Моделирование некоторых свойств изображений с атомарным разрешением в сканирующем зондовом микроскопе”, ЖТФ, 88:6 (2018), 803–807; Tech. Phys., 63:6 (2018), 777–781
Образцы ссылок на эту страницу:
https://www.mathnet.ru/rus/jtf5884 https://www.mathnet.ru/rus/jtf/v88/i6/p803
|
Статистика просмотров: |
Страница аннотации: | 48 | PDF полного текста: | 14 |
|