|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2022 |
| 1. |
А. А. Татаринцев, Н. А. Орликовский, Н. Г. Орликовская, К. Е. Озерова, Я. Э. Шахова, “Метод регистрации потенциала зарядки диэлектриков при ионном облучении по сдвигу границы тормозного рентгеновского спектра”, ЖТФ, 92:9 (2022), 1467–1470   |
|
2015 |
| 2. |
С. Ю. Купреенко, Н. А. Орликовский, Э. И. Рау, А. М. Тагаченков, А. А. Татаринцев, “Определение толщин ультратонких поверхностных пленок в наноструктурах по энергетическим спектрам отраженных электронов”, ЖТФ, 85:10 (2015), 101–104 ; S. Yu. Kupreenko, N. A. Orlikovsky, E. I. Rau, A. M. Tagachenkov, A. A. Tatarintsev, “Determination of thickness of ultrathin surface films in nanostructures from the energy spectra of reflected electrons”, Tech. Phys., 60:10 (2015), 1515–1518 |
6
|
|
2013 |
| 3. |
А. В. Гостев, Н. А. Орликовский, Э. И. Рау, А. А. Трубицын, “Усовершенствование электронного тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа и его новые применения в диагностике структур микро- и наноэлектроники”, ЖТФ, 83:3 (2013), 140–147 ; A. V. Gostev, N. A. Orlikovsky, E. I. Rau, A. A. Trubitsyn, “Updating of the toroidal electron spectrometer intended for a scanning electron microscope and its new applications in diagnostics of micro- and nanoelectronic structures”, Tech. Phys., 58:3 (2013), 447–454 |
9
|
|
2012 |
| 4. |
Э. И. Рау, Н. А. Орликовский, Е. С. Иванова, “Функция отклика и оптимальная конфигурация полупроводниковых детекторов отраженных электронов для сканирующих электронных микроскопов”, Физика и техника полупроводников, 46:6 (2012), 829–832 ; E. I. Rau, N. A. Orlikovsky, E. S. Ivanova, “Response function and optimum configuration of semiconductor backscattered-electron detectors for scanning electron microscopes”, Semiconductors, 46:6 (2012), 810–813 |
2
|
|
2011 |
| 5. |
Н. А. Кошев, Н. А. Орликовский, Э. И. Рау, А. Г. Ягола, “Решение обратной задачи восстановления сигнала электронного
микроскопа в режиме отраженных электронов на множестве
функций ограниченной вариации”, Выч. мет. программирование, 12:3 (2011), 362–367 |
|
