|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
| 1. |
А. П. Барабан, В. А. Дмитриев, В. Е. Дрозд, Ю. В. Петров, В. А. Прокофьев, “Электролюминесценция слоев Ta$_{2}$O$_{5}$, полученных методом молекулярного наслаивания”, Оптика и спектроскопия, 128:2 (2020), 224–227   ; A. P. Baraban, V. A. Dmitriev, V. E. Drozd, Yu. V. Petrov, V. A. Prokof’ev, “Electroluminescence of Ta$_{2}$O$_{5}$ films formed by molecular layer deposition”, Optics and Spectroscopy, 128:2 (2020), 220–223 |
2
|
| 2. |
А. П. Барабан, Е. А. Денисов, В. А. Дмитриев, А. В. Дрозд, В. Е. Дрозд, А. А. Селиванов, Р. П. Сейсян, “Особенности слоев SiO$_{2}$, синтезированных на кремнии методом молекулярного наслаивания”, Физика и техника полупроводников, 54:4 (2020), 427–431 ; A. P. Baraban, E. A. Denisov, V. A. Dmitriev, A. V. Drozd, V. E. Drozd, A. A. Selivanov, R. Seisyan, “Features of SiO$_2$ layers synthesized on silicon by molecular layer deposition”, Semiconductors, 54:4 (2020), 506–510 |
4
|
|
2019 |
| 3. |
А. П. Барабан, А. А. Селиванов, В. А. Дмитриев, А. В. Дрозд, В. Е. Дрозд, “Катодолюминесценция слоев TiO$_{2}$, полученных методом молекулярного наслаивания”, Письма в ЖТФ, 45:6 (2019), 13–15 ; A. P. Baraban, A. A. Selivanov, V. A. Dmitriev, A. V. Drozd, V. E. Drozd, “Cathodoluminescence of TiO$_{2}$ films formed by molecular layer deposition”, Tech. Phys. Lett., 45:3 (2019), 256–258 |
5
|
|
2016 |
| 4. |
А. П. Барабан, В. А. Дмитриев, В. А. Прокофьев, В. Е. Дрозд, Е. О. Филатова, “Фотолюминесценция пленок Ta$_{2}$O$_{5}$, формируемых методом молекулярного наслаивания”, Письма в ЖТФ, 42:7 (2016), 10–16 ; A. P. Baraban, V. A. Dmitriev, V. A. Prokof’ev, V. E. Drozd, E. O. Filatova, “Photoluminescence of Ta$_{2}$O$_{5}$ films formed by the molecular layer deposition method”, Tech. Phys. Lett., 42:4 (2016), 341–343 |
4
|
|
2012 |
| 5. |
А. С. Конашук, А. А. Соколов, В. Е. Дрозд, А. А. Романов, Е. О. Филатова, “Изучение влияния пористой подложки SiO$_2$ на свойства пленок Al$_2$O$_3$ с помощью рентгеновской рефлектометрии”, Письма в ЖТФ, 38:12 (2012), 24–29 ; A. S. Konashuk, A. A. Sokolov, V. E. Drozd, A. A. Romanov, E. O. Filatova, “The influence of porous silica substrate on the properties of alumina films studied by X-ray reflection spectroscopy”, Tech. Phys. Lett., 38:6 (2012), 562–564 |
4
|
|
