|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2022 |
| 1. |
А. В. Иродова, Е. А. Головкова, О. А. Кондратьев, В. С. Круглов, В. Е. Крылов, С. А. Тихомиров, С. В. Шавкин, “Остаточные напряжения на интерфейсе между несущей лентой и слоем YSZ при изготовлении ВТСП проводов второго поколения”, ЖТФ, 92:12 (2022), 1844–1852   |
|
2020 |
| 2. |
Н. Е. Белова, С. Г. Шемардов, С. С. Фанченко, Е. А. Головкова, О. А. Кондратьев, “Имплантация ионов кремния в сапфир: малые дозы”, Физика и техника полупроводников, 54:8 (2020), 766–770 ; N. E. Belova, S. G. Shemardov, S. S. Fanchenko, E. A. Golovkova, O. A. Kondratev, “Implantation of silicon ions into sapphire: low doses”, Semiconductors, 54:8 (2020), 912–915 |
|
2017 |
| 3. |
Е. А. Головкова, Е. А. Екимов, А. С. Иванов, В. С. Круглов, А. Ф. Паль, А. Н. Рябинкин, А. О. Серов, А. Н. Старостин, М. Б. Цетлин, “Структура и трибологические характеристики композиционных материалов на основе Al–Cu–Fe, сформированных при высоких давлениях”, Письма в ЖТФ, 43:21 (2017), 40–46 ; E. A. Golovkova, E. A. Ekimov, A. S. Ivanov, V. S. Kruglov, A. F. Pal', A. N. Ryabinkin, A. O. Serov, A. N. Starostin, M. B. Tsetlin, “Structure and tribological properties of composite materials based on Al–Cu–Fe formed at high pressure”, Tech. Phys. Lett., 43:11 (2017), 972–975 |
2
|
|
2015 |
| 4. |
Е. А. Головкова, А. В. Сурков, Г. Ф. Сырых, “Кристаллизация аморфных сплавов Zr–Be”, Физика твердого тела, 57:2 (2015), 254–257 ; E. A. Golovkova, A. V. Surkov, G. F. Syrykh, “Crystallization of amorphous Zr–Be alloys”, Phys. Solid State, 57:2 (2015), 266–269 |
2
|
|
2012 |
| 5. |
И. А. Черных, А. М. Строев, Л. В. Клевалина, М. Ю. Пресняков, Е. А. Головкова, С. А. Тихомиров, М. Л. Занавескин, А. Н. Марченков, А. К. Шиков, “Затравочные слои на подложках RABiTS для ВТСП проводов второго поколения”, Письма в ЖТФ, 38:18 (2012), 53–59 ; I. A. Chernykh, A. M. Stroev, L. V. Klevalina, M. Yu. Presniakov, E. A. Golovkova, S. A. Tikhomirov, M. L. Zanaveskin, A. N. Marchenkov, A. K. Shikov, “Seed layers on RABiTS tapes for Second-Generation HTS wires”, Tech. Phys. Lett., 38:9 (2012), 849–852 |
2
|
|
