Основные темы научной работы |
сканирующая электронная микроскопия, радиационная физика, теоретическая прочность, автоэлектронная и автоионная эмиссия. |
|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2025 |
| 1. |
Э. И. Рау, С. В. Зайцев, “Эффект увеличения коэффициента обратно рассеянных электронов на многослойных наноструктурах и инверсия контраста изображений в сканирующей электронной микроскопии”, УФН, 195:4 (2025), 425–431 ; E. I. Rau, S. V. Zaitsev, “Effect of increasing the coefficient of backscattered electrons for multilayer nanostructures and image contrast inversion in scanning electron microscopy”, Phys. Usp., 68:4 (2025), 401–407 |
1
|
|
2022 |
| 2. |
Э. И. Рау, С. В. Зайцев, В. Ю. Караулов, “Определение толщин и глубин залегания подповерхностных наноструктур с помощью сканирующего электронного микроскопа”, Письма в ЖТФ, 48:23 (2022), 22–25 |
3
|
|
2019 |
| 3. |
Э. И. Рау, А. А. Татаринцев, Е. Ю. Зыкова, С. В. Зайцев, “Исследование процессов зарядки ионно-имплантированных диэлектриков под воздействием электронного облучения”, ЖТФ, 89:8 (2019), 1276–1281 ; E. I. Rau, A. A. Tatarintsev, E. Yu. Zykova, S. V. Zaitsev, “Charging of ion-implanted dielectrics by electron irradiation”, Tech. Phys., 64:8 (2019), 1205–1209 |
4
|
|