|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2019 |
| 1. |
В. А. Смирнов, Р. В. Томинов, В. И. Авилов, Н. И. Алябьева, З. Е. Вакулов, Е. Г. Замбург, Д. А. Хахулин, О. А. Агеев, “Исследование мемристорного эффекта в нанокристаллических пленках ZnO”, Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 77–82   ; V. A. Smirnov, R. V. Tominov, V. I. Avilov, N. I. Alyab'eva, Z. E. Vakulov, E. G. Zamburg, D. A. Khakhulin, O. A. Ageev, “Investigation into the memristor effect in nanocrystalline ZnO films”, Semiconductors, 53:1 (2019), 72–77 |
18
|
|
2018 |
| 2. |
В. А. Смирнов, Р. В. Томинов, Н. И. Алябьева, М. В. Ильина, В. В. Полякова, Ал. В. Быков, О. А. Агеев, “Методика определения удельного сопротивления полупроводниковых материалов методом атомно-силовой микроскопии”, ЖТФ, 88:8 (2018), 1273–1278 ; V. A. Smirnov, R. V. Tominov, N. I. Alyab'eva, M. V. Il'ina, V. V. Polyakova, Al. V. Bykov, O. A. Ageev, “Atomic force microscopy measurement of the resistivity of semiconductors”, Tech. Phys., 63:8 (2018), 1236–1241 |
12
|
|
