|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2025 |
| 1. |
М. Е. Бойко, М. Д. Шарков, А. М. Бойко, П. Н. Бутенко, А. В. Алмаев, В. И. Николаев, “Особенности доменной структуры многослойной пленки SnO$_2$/Ga$_2$O$_3$/GaN/Al$_2$O$_3$”, Письма в ЖТФ, 51:1 (2025), 33–36   |
|
2022 |
| 2. |
М. Е. Бойко, М. Д. Шарков, А. М. Бойко, А. В. Бобыль, В. И. Николаев, “Изучение порошкообразных образцов LiFePO$_4$ дифракционными рентгеновскими методами с применением искусственных нейронных сетей”, Письма в ЖТФ, 48:14 (2022), 14–17 |
|
2018 |
| 3. |
М. Е. Бойко, М. Д. Шарков, Л. Б. Карлина, А. М. Бойко, С. Г. Конников, “Изучение сверхструктуры в сильно легированном пористом фосфиде индия рентгеновскими методами”, Физика и техника полупроводников, 52:1 (2018), 89–92 ; M. E. Boiko, M. D. Sharkov, L. B. Karlina, A. M. Boiko, S. G. Konnikov, “X-ray study of the superstructure in heavily doped porous indium phosphide”, Semiconductors, 52:1 (2018), 84–87 |
1
|
|
2016 |
| 4. |
М. Д. Шарков, М. Е. Бойко, А. М. Бойко, В. А. Боровиков, М. Н. Григорьев, С. Г. Конников, “Рентгеновские исследования формирования доменов в горных породах под взрывным воздействием”, Физика твердого тела, 58:11 (2016), 2248–2251 ; M. D. Sharkov, M. E. Boiko, A. M. Boiko, V. A. Borovikov, M. N. Grigor'ev, S. G. Konnikov, “X-ray studies of the domain formation in rocks under blasting”, Phys. Solid State, 58:11 (2016), 2331–2334 |
|
2015 |
| 5. |
М. Е. Бойко, М. Д. Шарков, А. М. Бойко, С. Г. Конников, А. В. Бобыль, Н. С. Будкина, “Исследование атомной, кристаллической, доменной структуры материалов на основе анализа дифракционных и абсорбционных рентгеновских данных (Обзор)”, ЖТФ, 85:11 (2015), 1–29 ; M. E. Boiko, M. D. Sharkov, A. M. Boiko, S. G. Konnikov, A. V. Bobyl', N. S. Budkina, “Investigation of the atomic, crystal, and domain structures of materials based on X-ray diffraction and absorption data: A review”, Tech. Phys., 60:11 (2015), 1575–1600 |
15
|
| 6. |
М. Д. Шарков, М. Е. Бойко, А. М. Бойко, А. В. Бобыль, С. Г. Конников, “Исследование микрокристаллического кремния методом малоуглового рассеяния рентгеновских лучей”, Физика и техника полупроводников, 49:8 (2015), 1078–1082 ; M. D. Sharkov, M. E. Boiko, A. M. Boiko, A. V. Bobyl', S. G. Konnikov, “Investigation of microcrystalline silicon by the small-angle X-ray-scattering technique”, Semiconductors, 49:8 (2015), 1052–1056 |
|
2013 |
| 7. |
М. Е. Бойко, М. Д. Шарков, А. М. Бойко, С. И. Нестеров, С. Г. Конников, “Доменная структура материала полупроводниковых лазеров на основе GaN/SiC”, Физика твердого тела, 55:10 (2013), 2035–2038 ; M. E. Boiko, M. D. Sharkov, A. M. Boiko, S. I. Nesterov, S. G. Konnikov, “Domain structure of GaN/SiC-based materials for semiconductor lasers”, Phys. Solid State, 55:10 (2013), 2150–2153 |
1
|
|
