|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2021 |
| 1. |
Н. Н. Косырев, В. Ю. Яковчук, Г. С. Патрин, В. А. Комаров, Е. Н. Волченко, И. А. Тарасов, “Оптические и магнитные свойства трехслойных систем Dy$_{x}$Co$_{1-x}$/Bi/Py”, Письма в ЖТФ, 47:3 (2021), 7–10   ; N. N. Kosyrev, V. Yu. Yakovchuk, G. S. Patrin, V. A. Komarov, E. N. Volchenko, I. A. Tarasov, “Optical and magnetic properties of Dy$_{x}$Co$_{1-x}$/Bi/Py three layer system”, Tech. Phys. Lett., 47:2 (2021), 107–110 |
2
|
|
2019 |
| 2. |
А. В. Кобяков, И. А. Турпанов, Г. С. Патрин, Р. Ю. Руденко, В. И. Юшков, Н. Н. Косырев, “Структурные и магнитные свойства систем Al$_{2}$O$_{3}$/Ge-$p$/Al$_{2}$O$_{3}$/Co”, ЖТФ, 89:2 (2019), 268–273 ; A. V. Kobyakov, I. А. Turpanov, G. S. Patrin, R. Yu. Rudenko, V. I. Yushkov, N. N. Kosyrev, “Structural and magnetic properties of the Al$_{2}$O$_{3}$/Ge-$p$/Al$_{2}$O$_{3}$/Co system”, Tech. Phys., 64:2 (2019), 236–241 |
1
|
|
2017 |
| 3. |
Olga A. Maksimova, Sergey G. Ovchinnikov, Nikolay N. Kosyrev, Sergey A. Lyaschenko, “Two-layer model of reflective ferromagnetic films in terms of magneto-optical ellipsometry studies”, Журн. СФУ. Сер. Матем. и физ., 10:2 (2017), 223–232  |
1
|
|
2014 |
| 4. |
Н. Н. Косырев, В. А. Швец, Н. Н. Михайлов, С. Н. Варнаков, С. Г. Овчинников, С. В. Рыхлицкий, И. А. Яковлев, “Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ”, ЖТФ, 84:5 (2014), 109–112 ; N. N. Kosyrev, V. A. Shvets, N. N. Mikhailov, S. N. Varnakov, S. G. Ovchinnikov, S. V. Rykhlitskii, I. A. Yakovlev, “Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers”, Tech. Phys., 59:5 (2014), 736–739 |
|
2013 |
| 5. |
С. А. Лященко, И. А. Тарасов, С. Н. Варнаков, Д. В. Шевцов, В. А. Швец, В. Н. Заблуда, С. Г. Овчинников, Н. Н. Косырев, Г. В. Бондаренко, С. В. Рыхлицкий, “Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами”, ЖТФ, 83:10 (2013), 139–142 ; S. A. Lyaschenko, I. A. Tarasov, S. N. Varnakov, D. V. Shevtsov, V. A. Shvets, V. N. Zabluda, S. G. Ovchinnikov, N. N. Kosyrev, G. V. Bondarenko, S. V. Rykhlitskii, “In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers”, Tech. Phys., 58:10 (2013), 1529–1532 |
|
2012 |
| 6. |
И. А. Тарасов, Н. Н. Косырев, С. Н. Варнаков, С. Г. Овчинников, С. М. Жарков, В. А. Швец, С. Г. Бондаренко, О. Е. Терещенко, “Эллипсометрическая экспресс-методика определения толщины и профилей оптических постоянных в процессе роста наноструктур Fe/SiO$_2$/Si(100)”, ЖТФ, 82:9 (2012), 44–48 ; I. A. Tarasov, N. N. Kosyrev, S. N. Varnakov, S. G. Ovchinnikov, S. M. Zharkov, V. A. Shvets, S. G. Bondarenko, O. E. Tereshchenko, “Quick ellipsometric technique for determining the thicknesses and optical constant profiles of Fe/SiO$_2$/Si(100) nanostructures during growth”, Tech. Phys., 57:9 (2012), 1225–1229 |
8
|
|
2010 |
| 7. |
Александр В. Ефремов, Сергей Г. Овчинников, Сергей Н. Варнаков, Николай Н. Косырев, “Моделирование системы крепления эллипсометра с использованием CAD”, Журн. СФУ. Сер. Матем. и физ., 3:1 (2010), 118–124 |
|
2008 |
| 8. |
Н. Н. Косырев, С. Г. Овчинников, “Ферромагнетизм при комнатной температуре в двухслойной структуре Dy$_{1-x}$Ni$_x$/Ni: магнитооптические измерения in situ”, Письма в ЖЭТФ, 88:2 (2008), 152–154 ; N. N. Kosyrev, S. G. Ovchinnikov, “Room temperature ferromagnetism of a double-layer Dy<sub>1-x</sub>Ni<sub>x</sub>/Ni structure: in situ magneto-optical measurements”, JETP Letters, 88:2 (2008), 141–143  |
3
|
|
