|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2015 |
| 1. |
Л. А. Головань, А. А. Соколов, В. Ю. Тимошенко, А. В. Семенов, А. Пастушенко, Т. Ничипорук, В. Лысенко, “Рост времени жизни фотона и увеличение эффективности процессов комбинационного рассеяния света и генерации второй гармоники в пористом карбиде кремния”, Письма в ЖЭТФ, 101:12 (2015), 891–896   ; L. A. Golovan', A. A. Sokolov, V. Yu. Timoshenko, A. V. Semenov, A. Pastushenko, T. Nychyporuk, V. Lysenko, “Increase in the lifetime of a photon and in the efficiency of raman scattering and second-harmonic generation processes in porous silicon carbide”, JETP Letters, 101:12 (2015), 793–797   |
11
|
|
2014 |
| 2. |
И. В. Миргородский, Л. А. Головань, В. Ю. Тимошенко, А. В. Семенов, В. М. Пузиков, “Люминесцентные свойства тонких нанокристаллических пленок карбида кремния, изготовленных прямым ионным осаждением”, Физика и техника полупроводников, 48:6 (2014), 731–735 ; I. V. Mirgorodsky, L. A. Golovan, V. Yu. Timoshenko, A. V. Semenov, V. M. Puzikov, “Luminescence properties of thin nanocrystalline silicon-carbide films fabricated by direct-beam ion deposition”, Semiconductors, 48:6 (2014), 711–714 |
3
|
|
2013 |
| 3. |
А. А. Борщ, В. Н. Старков, В. И. Волков, В. И. Руденко, А. Ю. Боярчук, А. В. Семенов, “Эффекты оптического ограничения в тонких наноструктурированных пленках карбида кремния”, Квантовая электроника, 43:12 (2013), 1122–1126 [A. A. Borsch, V. N. Starkov, V. I. Volkov, V. I. Rudenko, A. Yu. Boyarchuk, A. V. Semenov, “Optical limiting effects in nanostructured silicon carbide thin films”, Quantum Electron., 43:12 (2013), 1122–1126 ] |
4
|
|
2008 |
| 4. |
А. А. Борщ, М. С. Бродин, В. И. Волков, В. И. Руденко, В. Р. Ляховецкий, В. А. Семенов, В. М. Пузиков, “Нелинейная рефракция в нанокристаллических пленках карбида кремния”, Письма в ЖЭТФ, 88:6 (2008), 442–444 ; A. A. Borshch, M. S. Brodyn, V. I. Volkov, V. I. Rudenko, V. R. Lyakhovetskii, V. A. Semenov, V. M. Puzikov, “Nonlinear refraction in nanocrystalline silicon carbide films”, JETP Letters, 88:6 (2008), 386–388 |
14
|
|
