Научная биография: |
Машин, Николай Иванович.
Разработка рентгенофлуоресцентного метода определения толщины одно- и двухслойных покрытий и состава многокомпонентных пленок : автореф. дис. ... докт. хим. наук : 02.00.02 (Аналитич. химия); Горьковский гос. университет им. Н. И. Лобачевского. - Тула, 1987. - 18 с. |
|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
1986 |
| 1. |
А. Ф. Хохлов, А. И. Машин, А. В. Ершов, Ю. А. Мордвинова, Н. И. Машин, “Электрические и оптические свойства полупроводника
$a$-Si$_{1-x}$Ge$_{x}$”, Физика и техника полупроводников, 20:7 (1986), 1288–1291  |
|
