|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2024 |
| 1. |
Л. И. Горай, А. С. Дашков, Н. А. Костромин, Д. В. Мохов, Т. Н. Березовская, К. Ю. Шубина, Е. В. Пирогов, В. А. Шаров, С. А. Гарахин, М. В. Зорина, Р. С. Плешков, Н. И. Чхало, А. Д. Буравлев, “Высокочастотные дифракционные Mo/Be-решетки с малым углом блеска–исследование эффективности”, ЖТФ, 94:7 (2024), 1128–1135   |
| 2. |
Д. В. Мохов, Т. Н. Березовская, Е. В. Пирогов, К. Ю. Шубина, Н. Д. Прасолов, М. В. Зорина, С. А. Гарахин, Р. С. Плешков, Н. И. Чхало, А. С. Дашков, Н. А. Костромин, Л. И. Горай, А. Д. Буравлев, “Высокочастотные многослойные дифракционные Si-решетки с малым углом блеска – изготовление”, ЖТФ, 94:7 (2024), 1119–1127 |
| 3. |
Л. И. Горай, Н. А. Костромин, А. С. Дашков, А. Д. Буравлев, “Резонансы рельефных треугольных решеток для ввода/вывода терагерцевого излучения в полупроводниках А$_3$В$_5$”, Письма в ЖТФ, 50:19 (2024), 49–52 |
|
2023 |
| 4. |
Л. И. Горай, В. А. Шаров, Д. В. Мохов, Т. Н. Березовская, К. Ю. Шубина, Е. В. Пирогов, А. С. Дашков, А. Д. Буравлев, “Кремниевые решетки с блеском для мягкого рентгеновского и экстремального ультрафиолетового излучения: влияние формы профиля штриха и случайной шероховатости на дифракционную эффективность”, ЖТФ, 93:7 (2023), 859–866 |
| 5. |
А. С. Дашков, Л. Г. Герчиков, Л. И. Горай, Н. А. Костромин, А. Д. Буравлёв, “Терагерцовые излучатели с активной областью на основе сверхмногопериодных решеток AlGaAs/GaAs”, Физика и техника полупроводников, 57:5 (2023), 321–326 |
| 6. |
А. С. Дашков, Н. А. Костромин, А. В. Бабичев, Л. И. Горай, А. Ю. Егоров, “Моделирование зонной структуры сверхрешеток на основе “разбавленных” нитридов”, Физика и техника полупроводников, 57:3 (2023), 207–214 |
|
2022 |
| 7. |
Л. И. Горай, Т. Н. Березовская, Д. В. Мохов, В. А. Шаров, К. Ю. Шубина, Е. В. Пирогов, А. С. Дашков, А. В. Нащекин, М. В. Зорина, М. М. Барышева, С. А. Гарахин, С. Ю. Зуев, Н. И. Чхало, “Изготовление и тестирование в мягком рентгеновском и ЭУФ диапазонах дифракционных решеток с Au- и многослойным Mo/Si-покрытиями и с блеском в высоких порядках”, Квантовая электроника, 52:10 (2022), 955–962 [L. I. Goray, T. N. Berezovskaya, D. V. Mokhov, V. A. Sharov, K. Yu. Shubina, E. V. Pirogov, A. S. Dashkov, A. V. Nashchekin, M. V. Zorina, M. M. Barysheva, S. A. Garakhin, S. Yu. Zuev, N. I. Chkhalo, “Fabrication and testing of Au- and multilayer Mo/Si-coated diffraction gratings with high-order brilliance in high orders in the soft X-ray and EUV ranges”, Bull. Lebedev Physics Institute, 50:suppl. 2 (2023), S250–S261] |
3
|
|
2021 |
| 8. |
Л. И. Горай, Т. Н. Березовская, Д. В. Мохов, В. А. Шаров, К. Ю. Шубина, Е. В. Пирогов, А. С. Дашков, “Дифракционные решетки с блеском, получаемые на пластинах Si – первые результаты”, ЖТФ, 91:10 (2021), 1538–1547 |
3
|
| 9. |
Л. И. Горай, Е. В. Пирогов, М. В. Свечников, М. С. Соболев, Н. К. Поляков, Л. Г. Герчиков, Е. В. Никитина, А. С. Дашков, М. М. Борисов, С. Н. Якунин, А. Д. Буравлев, “Высокоточная характеризация сверхмногопериодных AlGaAs/GaAs-сверхрешеток с помощью рентгеновской рефлектометрии на синхротронном источнике”, Письма в ЖТФ, 47:15 (2021), 7–10 ; L. I. Goray, E. V. Pirogov, M. V. Svechnikov, M. S. Sobolev, N. K. Polyakov, L. G. Gerchikov, E. V. Nikitina, A. S. Dashkov, M. M. Borisov, S. N. Yakunin, A. D. Bouravlev, “High-precision characterization of super-multiperiod AlGaAs/GaAs superlattices using X-ray reflectometry on a synchrotron source”, Tech. Phys. Lett., 47:10 (2021), 757–760 |
7
|
|
2020 |
| 10. |
Л. И. Горай, Е. В. Пирогов, М. С. Соболев, Н. К. Поляков, А. С. Дашков, М. В. Свечников, А. Д. Буравлев, “Глубокая рентгеновская рефлектометрия сверхмногопериодных A3B5-структур с квантовыми ямами, выращиваемых методом молекулярно-пучковой эпитаксии”, ЖТФ, 90:11 (2020), 1906–1912 ; L. I. Goray, E. V. Pirogov, M. S. Sobolev, N. K. Polyakov, A. S. Dashkov, M. V. Svechnikov, A. D. Bouravlev, “Deep X-ray reflectometry of supermultiperiod A$_3$B$_5$ structures with quantum wells grown by molecular-beam epitaxy”, Tech. Phys., 65:11 (2020), 1822–1827 |
7
|
|
