|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2015 |
| 1. |
Б. В. Павлык, Р. М. Лыс, Р. И. Дидык, И. А. Шикоряк, “Особенности одноосной упругой деформации кристаллов $p$-Si, облученных рентгеновскими лучами”, Физика и техника полупроводников, 49:5 (2015), 638–643   ; B. V. Pavlyk, R. M. Lys, R. I. Didyk, J. A. Shykorjak, “Features of the uniaxial elastic deformation of X-ray-irradiated $p$-Si crystals”, Semiconductors, 49:5 (2015), 625–629 |
6
|
|
2012 |
| 2. |
Б. В. Павлык, Д. П. Слободзян, А. С. Грыпа, Р. М. Лыс, М. О. Кушлык, И. А. Шикоряк, Р. И. Дидык, “Совершенство поверхности кристаллов $p$-Si и радиационно-стимулированные изменения характеристик поверхностно-барьерных структур Bi–Si–Al”, Физика и техника полупроводников, 46:8 (2012), 1017–1021 ; B. V. Pavlyk, D. P. Slobodzyan, A. S. Grypa, R. M. Lys, M. O. Kushlyk, J. A. Shykorjak, R. I. Didyk, “Quality of the $p$-Si crystal surface and radiation-stimulated changes in the characteristics of Bi–Si–Al surface-barrier structures”, Semiconductors, 46:8 (2012), 993–997 |
6
|
|
1979 |
| 3. |
Н. А. Цаль, Р. И. Дидык, Н. Н. Романюк, “Электронно-микроскопическое наблюдение дефектов, возникающих при радиационном разрушении
щелочно-галоидных кристаллов”, Докл. АН СССР, 244:3 (1979), 574–575 |
|
