|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2023 |
| 1. |
В. А. Швец, Д. В. Марин, М. В. Якушев, С. В. Рыхлицкий, “Температурная зависимость спектров оптических постоянных CdTe в области края поглощения”, Оптика и спектроскопия, 131:9 (2023), 1213–1218   |
| 2. |
В. А. Швец, Д. В. Марин, М. В. Якушев, С. В. Рыхлицкий, “Эллипсометрический in situ контроль процессов роста буферных слоев ZnTe и CdTe в технологии молекулярно-лучевой эпитаксии кадмий-ртуть-теллура”, Физика и техника полупроводников, 57:6 (2023), 469–475 |
|
2022 |
| 3. |
Т. В. Перевалов, Е. В. Спесивцев, С. В. Рыхлицкий, П. Г. Бобовников, Г. Я. Красников, В. А. Гриценко, “Оптические свойства пиролитического нитрида кремния SiN$_x$, обогащённого кремнием”, Оптика и спектроскопия, 130:11 (2022), 1718–1722 |
| 4. |
В. Н. Кручинин, Е. В. Спесивцев, С. В. Рыхлицкий, В. А. Гриценко, F. Mehmood, T. Mikolajick, U. Schroeder, “Оптические свойства сегнетоэлектрических пленок Hf$_x$Zr$_y$O$_2$ и La : Hf$_x$Zr$_y$O$_2$ по данным эллипсометрии”, Оптика и спектроскопия, 130:3 (2022), 365–368 |
|
2021 |
| 5. |
В. Н. Кручинин, Д. С. Одинцов, Л. А. Шундрин, И. К. Шундрина, С. В. Рыхлицкий, Е. В. Спесивцев, В. А. Гриценко, “Оптические и электрохромные свойства тонких пленок амбиполяных полиимидов с пендантными группами на основе производных тоиксантенона”, Оптика и спектроскопия, 129:11 (2021), 1393–1399 ; V. N. Kruchinin, D. S. Odintsov, L. A. Shundrin, I. K. Shundrina, S. V. Rykhlitskii, E. V. Spesivtsev, V. A. Gritsenko, “Optical and electrochromic properties of thin films of ambipolar polyimides with pendant groups based on thioxanthenone derivatives”, Optics and Spectroscopy, 130:14 (2022), 2114–2119 |
3
|
| 6. |
М. В. Кручинина, А. А. Громов, Л. В. Щербакова, Э. В. Кручинина, В. М. Генералов, К. В. Генералов, В. Н. Кручинин, С. В. Рыхлицкий, И. Н. Яковина, М. В. Яковлев, О. В. Минин, И. В. Минин, “Электрические и вязкоупругие параметры эритроцитов в моделях для диагностики аденоматозных полипов и стадий колоректального рака при оптической детекции клеток в неоднородном переменном электрическом поле”, Оптика и спектроскопия, 129:6 (2021), 684–697 ; M. V. Kruchinina, A. A. Gromov, L. V. Shcherbakova, E. V. Kruchinina, V. M. Generalov, K. V. Generalov, V. N. Kruchinin, S. V. Rykhlitskii, I. N. Yakovina, M. V. Yakovlev, O. V. Minin, I. V. Minin, “Electrical and viscoelastic parameters of red blood cells in models for the diagnosis of adenomatous polyps and stages of colorectal cancer with optical detection of cells in non-uniform alternating electric field”, Optics and Spectroscopy, 129:12 (2021), 1327–1340 |
2
|
| 7. |
V. N. Kruchinin, V. A. Volodin, S. V. Rykhlitskii, V. A. Gritsenko, I. P. Posvirin, Xiaoping Shi, M. R. Baklanov, “Atomic structure and optical properties of plasma enhanced chemical vapor deposited SiCOH Low-k dielectric film”, Оптика и спектроскопия, 129:5 (2021), 618 ; Optics and Spectroscopy, 129:6 (2021), 645–651 |
6
|
| 8. |
В. А. Швец, Д. В. Марин, М. В. Якушев, С. В. Рыхлицкий, “Исследование температурной зависимости спектров оптических постоянных пленок Hg$_{1-x}$Cd$_{x}$Te, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии”, Оптика и спектроскопия, 129:1 (2021), 33–40 ; V. A. Shvets, D. V. Marin, M. V. Yakushev, S. V. Rykhlitskii, “Investigation of the temperature dependence of the spectra of optical constants of Hg$_{1-x}$Cd$_{x}$Te films grown using molecular beam epitaxy”, Optics and Spectroscopy, 129:1 (2021), 29–36 |
| 9. |
В. А. Швец, Д. В. Марин, И. А. Азаров, М. В. Якушев, С. В. Рыхлицкий, “In situ эллипсометрический мониторинг состава и температуры слоeв HgCdTe в процессе их роста”, Физика и техника полупроводников, 55:12 (2021), 1240–1247 |
|
2020 |
| 10. |
Т. В. Перевалов, В. Н. Кручинин, С. В. Рыхлицкий, В. А. Гриценко, А. П. Елисеев, Е. Е. Ломонова, “Оптические свойства кристаллов (ZrO$_{2}$)$_{1-x}$(Y$_{2}$O$_{3}$)$_{x}$ ($x$ = 0–0.037), полученных направленной кристаллизацией расплава”, Оптика и спектроскопия, 128:12 (2020), 1830–1836 ; T. V. Perevalov, V. N. Kruchinin, S. V. Rykhlitskii, V. A. Gritsenko, A. P. Eliseev, E. E. Lomonova, “Optical properties of (ZrO$_{2}$)$_{1-x}$(Y$_{2}$O$_{3}$)$_{x}$ ($x$ = 0–0.037) crystals grown by directional crystallization of the melt”, Optics and Spectroscopy, 128:12 (2020), 1963–1969 |
| 11. |
В. А. Швец, Д. В. Марин, В. Г. Ремесник, И. А. Азаров, М. В. Якушев, С. В. Рыхлицкий, “Параметрическая модель спектров оптических постоянных Hg$_{1-x}$Cd$_{x}$Te и определение состава соединения”, Оптика и спектроскопия, 128:12 (2020), 1815–1820 ; V. A. Shvets, D. V. Marin, V. G. Remesnik, I. A. Azarov, M. V. Yakushev, S. V. Rykhlitskii, “Parametric model of the optical constant spectra of Hg$_{1-x}$Cd$_{x}$Te and determination of the compound composition”, Optics and Spectroscopy, 128:12 (2020), 1948–1953 |
5
|
|
2019 |
| 12. |
В. Н. Кручинин, Т. В. Перевалов, Г. Н. Камаев, С. В. Рыхлицкий, В. А. Гриценко, “Оптические свойства нестехиометрического оксида кремния SiO$_{x}$ ($x<$ 2)”, Оптика и спектроскопия, 127:5 (2019), 769–773 ; V. N. Kruchinin, T. V. Perevalov, G. N. Kamaev, S. V. Rykhlitskii, V. A. Gritsenko, “Optical properties of nonstoichiometric silicon oxide SiO$_{x}$ ($x<$ 2)”, Optics and Spectroscopy, 127:5 (2019), 836–840 |
5
|
| 13. |
В. Н. Кручинин, М. В. Кручинина, Я. И. Прудникова, Е. В. Спесивцев, С. В. Рыхлицкий, В. А. Володин, С. В. Шеховцов, С. Е. Пельтек, “Использование спектральной эллипсометрии и спектроскопии комбинационного рассеяния света в скрининговой диагностике колоректального рака”, Оптика и спектроскопия, 127:1 (2019), 170–176 ; V. N. Kruchinin, M. V. Kruchinina, Ya. I. Prudnikova, E. V. Spesivtsev, S. V. Rykhlitskii, V. A. Volodin, S. V. Shekhovtsov, S. E. Pel'tek, “The use of spectral ellipsometry and Raman spectroscopy in the screening diagnosis of colorectal cancer”, Optics and Spectroscopy, 127:1 (2019), 170–176 |
4
|
| 14. |
В. А. Швец, И. А. Азаров, Д. В. Марин, М. В. Якушев, С. В. Рыхлицкий, “Эллипсометрический метод измерения температуры буферных слоев CdTe в технологии молекулярно-лучевой эпитаксии CdHgTe”, Физика и техника полупроводников, 53:1 (2019), 137–142 ; V. A. Shvets, I. A. Azarov, D. V. Marin, M. V. Yakushev, S. V. Rykhlitskii, “Ellipsometric method for measuring the CdTe buffer-layer temperature in the molecular-beam epitaxy of CdHgTe”, Semiconductors, 53:1 (2019), 132–137 |
5
|
|
2018 |
| 15. |
В. Н. Кручинин, Д. Д. Клямер, Е. В. Спесивцев, С. В. Рыхлицкий, Т. В. Басова, “Оптические свойства тонких пленок фталоцианинов цинка по данным спектральной эллипсометрии”, Оптика и спектроскопия, 125:6 (2018), 825–829 ; V. N. Kruchinin, D. D. Klyamer, E. V. Spesivtsev, S. V. Rykhlitskii, T. V. Basova, “Optical properties of thin films of zinc phthalocyanines determined by spectroscopic ellipsometry”, Optics and Spectroscopy, 125:6 (2018), 1019–1024 |
7
|
|
2014 |
| 16. |
Н. Н. Косырев, В. А. Швец, Н. Н. Михайлов, С. Н. Варнаков, С. Г. Овчинников, С. В. Рыхлицкий, И. А. Яковлев, “Эллипсометрическая методика определения показателя поглощения полупроводниковых нанослоев in situ”, ЖТФ, 84:5 (2014), 109–112 ; N. N. Kosyrev, V. A. Shvets, N. N. Mikhailov, S. N. Varnakov, S. G. Ovchinnikov, S. V. Rykhlitskii, I. A. Yakovlev, “Ellipsometric technique for determining in situ the absorption coefficient of semiconducting nanolayers”, Tech. Phys., 59:5 (2014), 736–739 |
|
2013 |
| 17. |
В. А. Швец, С. В. Рыхлицкий, И. Я. Миттова, Е. В. Томина, “Исследование оптических и структурных свойств оксидных пленок на InP методом спектральной эллипсометрии”, ЖТФ, 83:11 (2013), 92–99 ; V. A. Shvets, S. V. Rykhlitskii, I. Ya. Mittova, E. V. Tomina, “Analysis of the optical and structural properties of oxide films on InP using spectroscopic ellipsometry”, Tech. Phys., 58:11 (2013), 1638–1645 |
2
|
| 18. |
С. А. Лященко, И. А. Тарасов, С. Н. Варнаков, Д. В. Шевцов, В. А. Швец, В. Н. Заблуда, С. Г. Овчинников, Н. Н. Косырев, Г. В. Бондаренко, С. В. Рыхлицкий, “Исследования магнитооптических свойств тонких слоев Fe in situ методами”, ЖТФ, 83:10 (2013), 139–142 ; S. A. Lyaschenko, I. A. Tarasov, S. N. Varnakov, D. V. Shevtsov, V. A. Shvets, V. N. Zabluda, S. G. Ovchinnikov, N. N. Kosyrev, G. V. Bondarenko, S. V. Rykhlitskii, “In situ investigations of magneto-optical properties of thin Fe layers”, Tech. Phys., 58:10 (2013), 1529–1532 |
| 19. |
Н. А. Валишева, В. Н. Кручинин, О. Е. Терещенко, А. С. Кожухов, Т. А. Левцова, С. В. Рыхлицкий, Д. В. Щеглов, “Изучение морфологии и оптических свойств анодных оксидных слоев на InAs(111)A”, Физика и техника полупроводников, 47:4 (2013), 532–537 ; N. A. Valisheva, V. N. Kruchinin, O. E. Tereshchenko, A. S. Kozhukhov, T. A. Levtsova, S. V. Rykhlitskii, D. V. Shcheglov, “Study of the morphology and optical properties of anodic oxide layers on InAs (111)III”, Semiconductors, 47:4 (2013), 555–560 |
1
|
|
