|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2019 |
| 1. |
М. Б. Шалимова, Н. В. Сачук, “Особенности МДП-структур с фторидом самария на кремниевых и германиевых подложках”, Физика и техника полупроводников, 53:2 (2019), 241–245   ; M. B. Shalimova, N. V. Sachuk, “Features of MIS structures with samarium fluoride on silicon and germanium substrates”, Semiconductors, 53:2 (2019), 229–233 |
1
|
|
2015 |
| 2. |
М. Б. Шалимова, Н. В. Сачук, “Деградация электрофизических характеристик МОП структур с оксидами эрбия, гадолиния, диспрозия под действием электрического поля”, Физика и техника полупроводников, 49:8 (2015), 1071–1077 ; M. B. Shalimova, N. V. Sachuk, “Degradation of the electrical characteristics of MOS structures with erbium, gadolinium, and dysprosium oxides under the effect of an electric field”, Semiconductors, 49:8 (2015), 1045–1051 |
3
|
|
