|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2016 |
| 1. |
Ю. Ю. Логинов, А. В. Брильков, А. В. Мозжерин, “Электронно-микроскопические исследования образования структурных дефектов в ZnS при облучении электронами с энергией 400 keV”, Физика твердого тела, 58:12 (2016), 2380–2383   ; Yu. Yu. Loginov, A. V. Bril'kov, A. V. Mozzherin, “Electron microscopy study of the structural defect formation in ZnS under irradiation by electrons with energy of 400 keV”, Phys. Solid State, 58:12 (2016), 2468–2471 |
|
2014 |
| 2. |
Ю. Ю. Логинов, А. В. Мозжерин, А. В. Брильков, “Зависимость критического радиуса частичных дислокационных петель от энергии дефекта упаковки в полупроводниках”, Физика твердого тела, 56:4 (2014), 692–694 ; Yu. Yu. Loginov, A. V. Mozzherin, A. V. Bril'kov, “Dependence of the critical radius of partial dislocation loops on the stacking fault energy in semiconductors”, Phys. Solid State, 56:4 (2014), 720–722 |
8
|
|
