|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2020 |
| 1. |
И. А. Тамбасов, А. С. Воронин, Н. П. Евсевская, Ю. М. Кузнецов, А. В. Лукьяненко, Е. В. Тамбасова, М. О. Горнаков, М. В. Дорохин, Ю. Ю. Логинов, “Экспериментальное исследование коэффициента теплопроводности в тонких пленках на основе одностенных углеродных нанотрубок”, Физика твердого тела, 62:6 (2020), 960–964   ; I. A. Tambasov, A. S. Voronin, N. P. Evsevskaya, Yu. M. Kuznetsov, A. V. Lukyanenko, E. V. Tambasova, M. O. Gornakov, M. V. Dorokhin, Yu. Yu. Loginov, “Experimental study of the thermal conductivity of single-walled carbon nanotube-based thin films”, Phys. Solid State, 62:6 (2020), 1090–1094 |
6
|
|
2018 |
| 2. |
М. Н. Волочаев, С. В. Комогорцев, В. Г. Мягков, Л. Е. Быкова, В. С. Жигалов, Н. П. Шестаков, Д. А. Великанов, Д. А. Смоляков, А. В. Лукьяненко, В. Б. Рачек, Ю. Ю. Логинов, И. А. Тамбасов, А. А. Мацынин, “Структурные и магнитные характеристики однослойных и многослойных наногранулированных пленок Co–Al$_{2}$O$_{3}$, полученных методом твердофазного синтеза”, Физика твердого тела, 60:7 (2018), 1409–1415 ; M. N. Volochaev, S. V. Komogortsev, V. G. Myagkov, L. E. Bykova, V. S. Zhigalov, N. P. Shestakov, D. A. Velikanov, D. A. Smolyakov, A. V. Lukyanenko, V. B. Rachek, Yu. Yu. Loginov, I. A. Tambasov, A. A. Matsynin, “Structural and magnetic characteristics of nanogranular Co–Al$_{2}$O$_{3}$ single- and multilayer films formed by the solid-state synthesis”, Phys. Solid State, 60:7 (2018), 1425–1431 |
7
|
|
2016 |
| 3. |
Ю. Ю. Логинов, А. В. Брильков, А. В. Мозжерин, “Электронно-микроскопические исследования образования структурных дефектов в ZnS при облучении электронами с энергией 400 keV”, Физика твердого тела, 58:12 (2016), 2380–2383 ; Yu. Yu. Loginov, A. V. Bril'kov, A. V. Mozzherin, “Electron microscopy study of the structural defect formation in ZnS under irradiation by electrons with energy of 400 keV”, Phys. Solid State, 58:12 (2016), 2468–2471 |
|
2014 |
| 4. |
Ю. Ю. Логинов, А. В. Мозжерин, А. В. Брильков, “Зависимость критического радиуса частичных дислокационных петель от энергии дефекта упаковки в полупроводниках”, Физика твердого тела, 56:4 (2014), 692–694 ; Yu. Yu. Loginov, A. V. Mozzherin, A. V. Bril'kov, “Dependence of the critical radius of partial dislocation loops on the stacking fault energy in semiconductors”, Phys. Solid State, 56:4 (2014), 720–722 |
8
|
|
