|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2018 |
| 1. |
М. В. Рыжкова, Е. А. Борисенко, М. В. Иванченко, Д. А. Цуканов, А. В. Зотов, А. А. Саранин, “Исследование поверхностной проводимости двойного слоя таллия на Si(111) после адсорбции лития и рубидия”, Письма в ЖТФ, 44:10 (2018), 12–19   ; M. V. Ryzhkova, E. A. Borisenko, M. V. Ivanchenko, D. A. Tsukanov, A. V. Zotov, A. A. Saranin, “Studying the surface conductivity of a thallium bilayer on Si(111) substrate after adsorption of lithium and rubidium”, Tech. Phys. Lett., 44:5 (2018), 412–415 |
1
|
|
2016 |
| 2. |
Н. И. Солин, Л. Н. Ромашев, С. В. Наумов, А. А. Саранин, А. В. Зотов, Д. А. Олянич, В. Г. Котляр, О. А. Утас, “Магниторезистивные свойства наноструктурированных магнитных металлов, манганитов и магнитных полупроводников”, ЖТФ, 86:2 (2016), 78–84 ; N. I. Solin, L. N. Romashev, S. V. Naumov, A. A. Saranin, A. V. Zotov, D. A. Olyanich, V. G. Kotlyar, O. A. Utas, “Magnetoresistive properties of nanostructured magnetic metals, manganites, and magnetic semiconductors”, Tech. Phys., 61:2 (2016), 233–239 |
2
|
|
2015 |
| 3. |
А. А. Алексеев, Д. А. Олянич, Т. В. Утас, В. Г. Котляр, А. В. Зотов, А. А. Саранин, “СТМ-наблюдение сверхтонких эпитаксиальных пленок CoSi$_2$(111), выращенных при высокой температуре”, ЖТФ, 85:10 (2015), 94–100 ; A. A. Alekseev, D. A. Olyanich, T. V. Utas, V. G. Kotlyar, A. V. Zotov, A. A. Saranin, “Scanning tunneling microscopy observation of ultrathin epitaxial CoSi$_2$(111) films grown at a high temperature”, Tech. Phys., 60:10 (2015), 1508–1514 |
9
|
| 4. |
Т. С. Шамирзаев, Н. Г. Галкин, Е. А. Чусовитин, Д. Л. Горошко, А. В. Шевлягин, А. К. Гутаковский, А. А. Саранин, А. В. Латышев, “Светодиодные 1.5-мкм электролюминесцентные излучатели на основе структур $p^+$-Si/НК $\beta$-FeSi$_2$/$n$-Si”, Физика и техника полупроводников, 49:4 (2015), 519–523 ; T. S. Shamirzaev, N. G. Galkin, E. A. Chusovitin, D. L. Goroshko, A. V. Shevlyagin, A. K. Gutakovskii, A. A. Saranin, A. V. Latyshev, “Electroluminescent 1.5-$\mu$m light-emitting diodes based on $p^+$-Si/NC $\beta$-FeSi$_2$/$n$-Si structures”, Semiconductors, 49:4 (2015), 508–512 |
1
|
|
2012 |
| 5. |
А. С. Федоров, А. А. Кузубов, Т. А. Кожевникова, Н. С. Елисеева, Н. Г. Галкин, С. Г. Овчинников, А. А. Саранин, А. В. Латышев, “Особенности структуры и свойств нанопленок
$\beta$-FeSi$_2$ и интерфейса
$\beta$-FeSi$_2$/Si”, Письма в ЖЭТФ, 95:1 (2012), 23–28 ; A. S. Fedorov, A. A. Kuzubov, T. A. Kozhevnikova, N. S. Elyseeva, N. G. Galkin, S. G. Ovchinnikov, A. A. Saranin, A. V. Latyshev, “Features of the structure and properties of $\beta$-FeSi$_2$ nanofilms and a $\beta$-FeSi$_2$/Si interface”, JETP Letters, 95:1 (2012), 20–24   |
3
|
| 6. |
М. В. Иванченко, В. А. Гриценко, А. В. Непомнящий, А. А. Саранин, “Усиление электронно-стимулированной десорбции от аморфных пленок оксида алюминия на кремнии при повышении температуры подложки”, ЖТФ, 82:5 (2012), 115–119 ; M. V. Ivanchenko, V. A. Gritsenko, A. V. Nepomnyashchii, A. A. Saranin, “Enhancement of the electron-stimulated desorption from amorphous aluminum oxide films on silicon during an increase in the substrate temperatur”, Tech. Phys., 57:5 (2012), 693–696 |
|
2010 |
| 7. |
Д. А. Олянич, Д. Н. Чубенко, Д. В. Грузнев, В. Г. Котляр, В. В. Устинов, Н. И. Солин, А. В. Зотов, А. А. Саранин, “Адсорбция Co на реконструированные поверхности кремния: Si(100)–$c$(4 $\times$ 12)–Al и Si(111)–5.55 $\times$ 5.55–Cu”, Письма в ЖТФ, 36:3 (2010), 15–22 ; D. A. Olyanich, D. N. Chubenko, D. V. Gruznev, V. G. Kotlyar, V. V. Ustinov, N. I. Solin, A. V. Zotov, A. A. Saranin, “Effect of Si(100)–$c$(4 $\times$ 12)–Al and Si(111)–5.55 $\times$ 5.55–Cu reconstructions on the deposition of cobalt onto silicon surface”, Tech. Phys. Lett., 36:2 (2010), 100–103 |
3
|
|
2000 |
| 8. |
В. Г. Лифшиц, Ю. Л. Гаврилюк, А. А. Саранин, А. В. Зотов, Д. А. Цуканов, “Поверхностные фазы на кремнии”, УФН, 170:5 (2000), 569–571 ; V. G. Lifshits, Yu. L. Gavrilyuk, A. A. Saranin, A. V. Zotov, D. A. Tsukanov, “Surface phases on silicon”, Phys. Usp., 43:5 (2000), 525–527 |
1
|
|
Обратная связь: