|
|
|
Публикации в базе данных Math-Net.Ru |
Цитирования |
|
2025 |
| 1. |
А. А. Лебедев, В. В. Козловский, Д. А. Малевский, А. В. Сахаров, К. С. Давыдовская, М. Е. Левинштейн, А. Е. Николаев, “Влияние температуры облучения на скорость удаления носителей в GaN”, Физика и техника полупроводников, 59:4 (2025), 227–229 |
|
2024 |
| 2. |
В. Ю. Давыдов, А. Н. Смирнов, И. А. Елисеев, А. А. Лебедев, М. Е. Левинштейн, В. В. Козловский, “Низкотемпературное люминесцентное исследование образования радиационных дефектов в $4H$-$\mathrm{SiC}$ диодах Шоттки”, Физика твердого тела, 66:12 (2024), 2193–2196 |
| 3. |
К. В. Лихачев, А. М. Скоморохов, М. В. Учаев, Ю. А. Успенская, В. В. Козловский, М. Е. Левинштейн, И. А. Елисеев, А. Н. Смирнов, Д. Д. Крамущенко, Р. А. Бабунц, П. Г. Баранов, “Локальная диагностика спиновых дефектов в облученных SiC-диодах Шоттки”, Письма в ЖЭТФ, 120:5 (2024), 367–373 ; K. V. Likhachev, A. M. Skomorokhov, M. V. Uchaev, Yu. A. Uspenskaya, V. V. Kozlovski, M. E. Levinshteǐn, I. A. Eliseev, A. N. Smirnov, D. D. Kramushchenko, R. A. Babunts, P. G. Baranov, “Local diagnostics of spin defects in irradiated SiC Schottky diodes”, JETP Letters, 120:5 (2024), 354–359 |
| 4. |
А. А. Лебедев, А. В. Сахаров, В. В. Козловский, Д. А. Малевский, А. Е. Николаев, М. Е. Левинштейн, “Влияние протонного и электронного облучения на параметры нитрид-галлиевых диодов Шоттки”, Физика и техника полупроводников, 58:1 (2024), 49–52 ; A. A. Lebedev, A. V. Sakharov, V. V. Kozlovsky, D. A. Malevskii, A. E. Nikolaev, M. E. Levinshteǐn, “Effect of proton and electron irradiation on the parameters of gallium nitride Schottky diodes”, Semiconductors, 58:5 (2024), 433–435 |
|
2023 |
| 5. |
А. А. Лебедев, Д. А. Малевский, В. В. Козловский, М. Е. Левинштейн, “Процессы долговременной релаксации в облученном протонами 4H-SiC”, Физика и техника полупроводников, 57:9 (2023), 743–750 |
| 6. |
А. А. Лебедев, В. В. Козловский, М. Е. Левинштейн, Д. А. Малевский, Г. А. Оганесян, “Влияние протонного облучения на свойства высоковольтных интегрированных 4$H$-SiC диодов Шоттки в рабочем диапазоне температур”, Физика и техника полупроводников, 57:1 (2023), 53–57 |
1
|
| 7. |
М. Е. Левинштейн, Б. А. Матвеев, N. D'yakonova, “Низкочастотные шумы и сопротивление фотодиодов с незащищенной поверхностью на основе InAsSbP/InAs в атмосфере паров этанола”, Письма в ЖТФ, 49:11 (2023), 19–24 |
|
2022 |
| 8. |
А. А. Лебедев, В. В. Козловский, М. Е. Левинштейн, Д. А. Малевский, Р. А. Кузьмин, “Устойчивость к электронному облучению высоковольтных 4H-SiC диодов Шоттки в рабочем диапазоне температур”, Физика и техника полупроводников, 56:8 (2022), 809–813 |
| 9. |
А. А. Лебедев, В. В. Козловский, М. Е. Левинштейн, Д. А. Малевский, Г. А. Оганесян, А. М. Стрельчук, К. С. Давыдовская, “Отжиг высоковольтных 4H-SiC диодов Шоттки, облученных электронами при высокой температуре”, Физика и техника полупроводников, 56:4 (2022), 441–445 |
|
2020 |
| 10. |
В. В. Козловский, O. Корольков, К. С. Давыдовская, А. А. Лебедев, М. Е. Левинштейн, Н. Слепчук, А. М. Стрельчук, J. Toompuu, “Влияние температуры протонного облучения на характеристики мощных высоковольтных карбид-кремниевых диодов Шоттки”, Письма в ЖТФ, 46:6 (2020), 35–37 ; V. V. Kozlovsky, O. Korolkov, K. S. Davydovskaja, A. A. Lebedev, M. E. Levinshteǐn, N. Sleptsuk, A. M. Strel'chuk, J. Toompuu, “Influence of the proton irradiation temperature on the characteristics of high-power high-voltage silicon carbide Schottky diodes”, Tech. Phys. Lett., 46:3 (2020), 287–289 |
8
|
|
2019 |
| 11. |
А. А. Лебедев, М. Е. Левинштейн, П. А. Иванов, В. В. Козловский, А. М. Стрельчук, Е. И. Шабунина, L. Fursin, “Влияние протонного облучения (15 МэВ) на низкочастотный шум мощных SiC MOSFETs”, Физика и техника полупроводников, 53:12 (2019), 1604–1608 ; A. A. Lebedev, M. E. Levinshteǐn, P. A. Ivanov, V. V. Kozlovsky, A. M. Strel'chuk, E. I. Shabunina, L. Fursin, “Effect of irradiation with 15-MeV protons on low frequency noise in power SiC MOSFETs”, Semiconductors, 53:12 (2019), 1568–1572 |
8
|
| 12. |
А. А. Лебедев, В. В. Козловский, П. А. Иванов, М. Е. Левинштейн, А. В. Зубов, “Влияние облучения электронами высокой энергии на характеристики ударных токов высоковольтных интегрированных 4$H$-SiC $p$–$n$-диодов Шоттки”, Физика и техника полупроводников, 53:10 (2019), 1448–1452 ; A. A. Lebedev, V. V. Kozlovsky, P. A. Ivanov, M. E. Levinshteǐn, A. V. Zubov, “Impact of high energy elctron irradiation on surge currents in 4$H$-SiC JBS Schottky diodes”, Semiconductors, 53:10 (2019), 1409–1413 |
1
|
| 13. |
А. А. Лебедев, П. А. Иванов, М. Е. Левинштейн, Е. Н. Мохов, С. С. Нагалюк, А. Н. Анисимов, П. Г. Баранов, “Электроника на основе SiC (к 100-летию Физико-технического института им. А.Ф. Иоффе РАН)”, УФН, 189:8 (2019), 803–848 ; A. A. Lebedev, P. A. Ivanov, M. E. Levinshtein, E. N. Mokhov, S. S. Nagalyuk, A. N. Anisimov, P. G. Baranov, “SiC-based electronics (100th anniversary of the Ioffe Institute)”, Phys. Usp., 62:8 (2019), 754–794 |
16
|
|
2017 |
| 14. |
В. С. Юферев, М. Е. Левинштейн, П. А. Иванов, Jon Q. Zhang, John W. Palmour, “Переходной процесс выключения 4$H$-SiC биполярного транзистора из режима глубокого насыщения”, Физика и техника полупроводников, 51:9 (2017), 1243–1248 ; V. S. Yuferev, M. E. Levinshteǐn, P. A. Ivanov, Jon Q. Zhang, John W. Palmour, “Transient switch-off of a 4$H$-SiC bipolar transistor from the deep-saturation mode”, Semiconductors, 51:9 (2017), 1194–1199 |
2
|
| 15. |
Т. Т. Мнацаканов, А. Г. Тандоев, М. Е. Левинштейн, С. Н. Юрков, J. W. Palmour, “Вольт-амперные характеристики диодов Шоттки при больших плотностях тока в условиях инжекции неосновных носителей”, Физика и техника полупроводников, 51:8 (2017), 1125–1130 ; T. T. Мnatsakanov, A. G. Tandoev, M. E. Levinshteǐn, S. N. Yurkov, J. W. Palmour, “Current–voltage characteristics of Schottky diodes at high current densities under the injection of minority carriers”, Semiconductors, 51:8 (2017), 1081–1086 |
1
|
| 16. |
Т. Т. Мнацаканов, М. Е. Левинштейн, В. Б. Шуман, Б. М. Середин, “О пределе инжектирующей способности кремниевых $p^{+}$–$n$-переходов, обусловленном влиянием фундаментальных физических эффектов”, Физика и техника полупроводников, 51:6 (2017), 830–834 ; T. T. Мnatsakanov, M. E. Levinshteǐn, V. B. Shuman, B. M. Seredin, “On the limit of the injection ability of silicon $p^{+}$–$n$ junctions as a result of fundamental physical effects”, Semiconductors, 51:6 (2017), 798–802 |
2
|
| 17. |
С. Н. Юрков, Т. Т. Мнацаканов, М. Е. Левинштейн, А. Г. Тандоев, J. W. Palmour, “Анализ влияния неодномерных эффектов на отпирающий ток управления тиристорных структур на основе 4$H$-SiC”, Физика и техника полупроводников, 51:2 (2017), 234–239 ; S. N. Yurkov, T. T. Мnatsakanov, M. E. Levinshteǐn, A. G. Tandoev, J. W. Palmour, “Analysis of the impact of non-1D effects on the gate switch-on current in 4$H$-SiC thyristors”, Semiconductors, 51:2 (2017), 225–231 |
|
2016 |
| 18. |
М. Е. Левинштейн, П. А. Иванов, Q. J. Zhang, J. W. Palmour, “Изотермические вольт-амперные характеристики высоковольных 4$H$-SiC JBS-диодов Шоттки”, Физика и техника полупроводников, 50:5 (2016), 668–673 ; M. E. Levinshteǐn, P. A. Ivanov, Q. J. Zhang, J. W. Palmour, “Isothermal current–voltage characteristics of high-voltage 4$H$-SiC junction barrier Schottky rectifiers”, Semiconductors, 50:5 (2016), 656–661 |
1
|
| 19. |
М. Е. Левинштейн, Т. Т. Мнацаканов, С. Н. Юрков, А. Г. Тандоев, Sei-Hyung Ryu, J. W. Palmour, “Высоковольтный тиристор на основе карбида кремния с блокирующей базой $n$-типа”, Физика и техника полупроводников, 50:3 (2016), 408–414 ; M. E. Levinshteǐn, T. T. Мnatsakanov, S. N. Yurkov, A. G. Tandoev, Sei-Hyung Ryu, J. W. Palmour, “High-voltage silicon-carbide thyristor with an $n$-type blocking base”, Semiconductors, 50:3 (2016), 404–410 |
7
|
|
2013 |
| 20. |
В. С. Юферев, М. Е. Левинштейн, П. А. Иванов, “Переходные процессы в высоковольтных карбид-кремниевых биполярных транзисторах”, Физика и техника полупроводников, 47:8 (2013), 1071–1077 ; V. S. Yuferev, M. E. Levinshtein, P. A. Ivanov, “Transient processes in high-voltage silicon carbide bipolar-junction transistors”, Semiconductors, 47:8 (2013), 1068–1074 |
2
|
| 21. |
Т. Т. Мнацаканов, А. Г. Тандоев, М. Е. Левинштейн, С. Н. Юрков, J. W. Palmour, “Нарушение нейтральности и возникновение $S$-образной вольт-амперной характеристики при двойной инжекции в легированных полупроводниках”, Физика и техника полупроводников, 47:3 (2013), 302–309 ; T. T. Мnatsakanov, A. G. Tandoev, M. E. Levinshteǐn, S. N. Yurkov, J. W. Palmour, “Violation of neutrality and occurrence of $S$-shaped current-voltage characteristic for doped semiconductors under double injection”, Semiconductors, 47:3 (2013), 327–334 |
1
|
| 22. |
В. С. Юферев, М. Е. Левинштейн, J. W. Palmour, “Особенности стационарного распределения носителей заряда и тока удержания в SiC-фототиристоре”, Физика и техника полупроводников, 47:1 (2013), 118–123 ; V. S. Yuferev, M. E. Levinshteǐn, J. W. Palmour, “Specific features of the steady-state carrier distribution and holding current in an optically triggered SiC thyristor”, Semiconductors, 47:1 (2013), 116–121 |
3
|
|
2012 |
| 23. |
М. Е. Левинштейн, Т. Т. Мнацаканов, С. Н. Юрков, J. W. Palmour, “Перегрев SiC фототиристора в процессе включения и распространения включенного состояния”, Физика и техника полупроводников, 46:9 (2012), 1224–1229 ; M. E. Levinshteǐn, T. T. Мnatsakanov, S. N. Yurkov, J. W. Palmour, “Overheating of an optically triggered SiC thyristor during switch-on and turn-on spread”, Semiconductors, 46:9 (2012), 1201–1206 |
3
|
| 24. |
А. Л. Закгейм, М. Е. Левинштейн, В. П. Петров, А. Е. Черняков, Е. И. Шабунина, Н. М. Шмидт, “Низкочастотный шум в исходных и деградировавших синих InGaAs/GaN-светодиодах”, Физика и техника полупроводников, 46:2 (2012), 219–223 ; A. L. Zakhgeim, M. E. Levinshteǐn, V. P. Petrov, A. E. Chernyakov, E. I. Shabunina, N. M. Shmidt, “Low-frequency noise in as-fabricated and degraded blue InGaAs/GaN LEDs”, Semiconductors, 46:2 (2012), 208–212 |
12
|
|
2011 |
| 25. |
М. Е. Левинштейн, П. А. Иванов, J. W. Palmour, A. K. Agarwal, М. К. Das, “Особенности деградации высоковольтных 4H-SiC $p$–$i$–$n$-диодов под действием импульсов прямого тока”, Письма в ЖТФ, 37:8 (2011), 7–12 ; M. E. Levinshtein, P. A. Ivanov, J. W. Palmour, A. K. Agarwal, М. К. Das, “Features of degradation in high-voltage 4H-SiC $p$–$i$–$n$ diodes under the action of forward current pulses”, Tech. Phys. Lett., 37:4 (2011), 347–349 |
|
1992 |
| 26. |
Г. М. Гусинский, Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Шум $1/f$, электрические и фотоэлектрические свойства GaAs, подвергнутого облучению ионами высокой энергии”, Физика и техника полупроводников, 26:3 (1992), 543–547 |
| 27. |
М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “О разнице между статической и динамической силами трения”, Письма в ЖТФ, 18:5 (1992), 42–46 |
|
1991 |
| 28. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Природа объемного шума $1/f$ в GaAs и Si (обзор)”, Физика и техника полупроводников, 25:12 (1991), 2065–2104 |
| 29. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Температурная зависимость низкочастотного шума в структурно
совершенном и подвергнутом деструктивному сжанию GaAs”, Физика и техника полупроводников, 25:2 (1991), 355–358 |
| 30. |
М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Релаксация фотопроводимости и шум $1/f$ в GaAs, подвергнутом
деструктивному сжатию”, Физика и техника полупроводников, 25:1 (1991), 164–167 |
|
1990 |
| 31. |
М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Влияние деструктивного одноосного сжатия на шум $1/f$ в GaAs”, Физика и техника полупроводников, 24:10 (1990), 1807–1815 |
| 32. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Исследование долговременной релаксации фотопроводимости в Si в связи
с проблемой шума $1/f$”, Физика и техника полупроводников, 24:9 (1990), 1531–1538 |
| 33. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, Д. А. Плоткин, С. Л. Румянцев, “Кинетика спада долговременно́й фотопроводимости в GaAs и модель
объемного шума $1/f$ в полупроводниках”, Физика и техника полупроводников, 24:5 (1990), 836–843 |
| 34. |
Е. Г. Гук, Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Эффект немонотонной зависимости шума $1/f$ от интенсивности
подсветки в Si и модель объемного шума $1/f$ в полупроводниках”, Физика и техника полупроводников, 24:5 (1990), 813–820 |
|
1989 |
| 35. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Шум $1/f$ и долговременная релаксация фотопроводимости в GaAs”, Физика и техника полупроводников, 23:10 (1989), 1828–1833 |
| 36. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, “Модель объемного шума $1/f$ в лавинно-пролетных диодах”, Физика и техника полупроводников, 23:7 (1989), 1187–1192 |
| 37. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, “Модель объемного шума $1/f$ в полупроводниках”, Физика и техника полупроводников, 23:2 (1989), 283–291 |
|
1988 |
| 38. |
М. М. Аникин, М. Е. Левинштейн, И. В. Попов, В. П. Растегаев, А. М. Стрельчук, А. Л. Сыркин, “Температурная зависимость напряжения лавинного пробоя
в карбид-кремниевых $p{-}n$-переходах”, Физика и техника полупроводников, 22:9 (1988), 1574–1579 |
| 39. |
С. Н. Вайнштейн, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, “Исследование субнаносекундного включения арсенид-галлиевых
тиристорных структур”, Физика и техника полупроводников, 22:6 (1988), 1134–1137 |
| 40. |
Е. Г. Гук, Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, “Подавление светом шума $1/f$ в кремнии”, Физика и техника полупроводников, 22:6 (1988), 1120–1122 |
| 41. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Перестройка светом шума $1/f$ в арсениде галлия”, Физика и техника полупроводников, 22:6 (1988), 1049–1052 |
| 42. |
Н. В. Дьяконова, М. Е. Левинштейн, “Влияние температуры на перестройку светом шума $1/f$ в GaAs”, Письма в ЖТФ, 14:21 (1988), 1978–1982 |
| 43. |
С. Н. Вайнштейн, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, “Визуализация процесса субнаносекундного переключения арсенидгаллиевых
диодных структур”, Письма в ЖТФ, 14:16 (1988), 1526–1530 |
| 44. |
М. М. Аникин, С. Н. Вайнштейн, М. Е. Левинштейн, A. M. Стрельчук, А. Л. Сыркин, “Об отрицательном температурном коэффициенте напряжения пробоя
в карбидкремниевых $p{-}n$ переходах”, Письма в ЖТФ, 14:6 (1988), 545–547 |
|
1987 |
| 45. |
С. Н. Вайнштейн, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, “Распространение включенного состояния в арсенид-галлиевых тиристорах”, Физика и техника полупроводников, 21:1 (1987), 129–133 |
| 46. |
С. Н. Вайнштейн, В. А. Дмитриев, М. Е. Левинштейн, С. В. Рендакова, “О шнуровании тока в карбидкремниевых Р-П-переходах при пробое”, Письма в ЖТФ, 13:12 (1987), 741–743 |
| 47. |
С. Н. Вайнштейн, М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Подавление светом шума $1/f$ в арсениде галлия”, Письма в ЖТФ, 13:11 (1987), 645–648 |
|
1986 |
| 48. |
С. Н. Вайнштейн, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, “Сравнительное исследование процесса включения арсенидгаллиевых
и кремниевых тиристоров”, ЖТФ, 56:7 (1986), 1343–1347 |
|
1985 |
| 49. |
М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Шум $1/f$ горячих электронов в GaAs”, Физика и техника полупроводников, 19:9 (1985), 1651–1656 |
| 50. |
В. Б. Горфинкель, М. Е. Левинштейн, С. Г. Шофман, “Высокочастотная проводимость Ga$_{x}$In$_{1-x}$Sb в сильных
электрических полях”, Физика и техника полупроводников, 19:1 (1985), 131–133 |
|
1984 |
| 51. |
В. И. Брылевский, М. Е. Левинштейн, И. Г. Чашников, “Динамическая локализация тока в переходном процессе включения
тиристоров”, ЖТФ, 54:1 (1984), 124–130 |
| 52. |
М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Особенности неустойчивости
в условиях отрицательной дифференциальной
проводимости при наличии двух сортов носителей”, Физика и техника полупроводников, 18:9 (1984), 1577–1582 |
| 53. |
А. Г. Астафуров, С. Н. Вайнштейн, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, В. Е. Челноков, “Распространение включенного состояния в GaAs тиристорах большой
площади”, Письма в ЖТФ, 10:23 (1984), 1430–1433 |
| 54. |
В. М. Ботнарюк, С. Н. Вайнштейн, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, “Сильноточный быстродействующий коммутатор на основе GaAs динисторной
структуры”, Письма в ЖТФ, 10:7 (1984), 385–388 |
|
1983 |
| 55. |
С. Н. Вайнштейн, И. И. Диакону, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, “Основные параметры включения
арсенид-галлиевых тиристоров”, ЖТФ, 53:3 (1983), 573–575 |
| 56. |
М. Е. Левинштейн, С. Л. Румянцев, “Шум $1/f$ в условиях сильного геометрического магнитосопротивления”, Физика и техника полупроводников, 17:10 (1983), 1830–1834 |
| 57. |
Ю. Д. Биленко, М. Е. Левинштейн, М. В. Попова, В. С. Юферев, “Исследование процесса переключения обратно смещенного
$p{-}n$-перехода в высокопроводящее состояние с помощью моделировани на
ЭВМ”, Физика и техника полупроводников, 17:10 (1983), 1812–1816 |
| 58. |
С. Н. Вайнштейн, И. И. Диакону, Ю. В. Жиляев, М. Е. Левинштейн, “Распространение включенного состояния в арсенидгаллиевых тиристорах”, Письма в ЖТФ, 9:9 (1983), 546–549 |
| 59. |
О. И. Бужинский, И. В. Грехов, М. Е. Левинштейн, В. Г. Сергеев, А. А. Сливицкий, “Лазер на парах меди с поперечным разрядом, коммутируемым полупроводниковыми переключателями со световым управлением”, Квантовая электроника, 10:1 (1983), 186–189 [O. I. Buzhinskiǐ, I. V. Grekhov, M. E. Levinshteǐn, V. G. Sergeev, A. A. Slivitskiǐ, “Transverse-discharge copper vapor laser utilizing an optically controlled semiconductor switch”, Sov J Quantum Electron, 13:1 (1983), 115–117 ] |
|
1981 |
| 60. |
В. М. Александров, О. И. Бужинский, И. В. Грехов, М. Е. Левинштейн, А. И. Мошкунов, В. Г. Сергеев, “Многоканальный полупроводниковый коммутатор наносекундного диапазона для возбуждения паров меди
поперечным разрядом”, Квантовая электроника, 8:1 (1981), 191–193 [V. M. Aleksandrov, O. I. Buzhinskiǐ, I. V. Grekhov, M. E. Levinshteǐn, A. I. Moshkunov, V. G. Sergeev, “Multichannel semiconductor nanosecond switch for excitation of copper vapor by a transverse discharge”, Sov J Quantum Electron, 11:1 (1981), 111–113 ] |
1
|
|
|
|
1992 |
| 61. |
М. Е. Левинштейн, “Первый международный симпозиум по исследованию перспективных полупроводниковых приборов (ISDRS-91)”, Физика и техника полупроводников, 26:6 (1992), 1153–1155 |
|